Occasion KLA / TENCOR Archer 10 XT #9276005 à vendre en France

KLA/TENCOR Archer 10 XT est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes haut de gamme développé pour améliorer les performances de l'inspection des défauts sur puce. KLA ARCHER10XT est conçu pour fournir des débits plus élevés et une meilleure sensibilité pour l'inspection des défauts. TENCOR ARCHER 10XT utilise un scanner à transistor à effet de champ (FETS) pour permettre la sensibilité aux défauts de taille nanométrique, et obtient des images numériques avec résolution submicronique. Il est équipé d'un scanner haute vitesse avancé et de modules de technologie d'imagerie qui permettent l'imagerie continue des plaquettes tout en augmentant les débits jusqu'à 20 plaquettes par heure. KLA Archer 10 XT offre des capacités avancées de reconnaissance des motifs de masque qui permettent la reconnaissance automatisée des plaquettes de semi-conducteur. La technologie avancée d'alignement assure l'alignement précis des motifs de masques et des images de plaquettes pour l'identification précise des défauts. Le système utilise un tableau CCD haute performance et des optiques avancées pour améliorer l'acquisition d'image et améliorer la précision de détection des défauts. L'unité intègre également une machine de traitement d'image sophistiquée qui est conçue pour détecter et classer les défauts en fonction de critères prédéfinis. Cette capacité permet d'améliorer la détection et la classification des défauts conformément aux lignes directrices de l'industrie. Des techniques avancées de traitement du signal sont utilisées pour caractériser les types de défauts et déterminer les réponses appropriées pour l'action. TENCOR ARCHER10XT offre une interface conviviale et est entièrement compatible avec les outils assistés par ordinateur tels que les logiciels de contrôle fab. De plus, l'outil peut être intégré aux systèmes parents et up-stream pour permettre la collecte et l'analyse de données automatisées et cohérentes. L'actif permet également la gestion centralisée des tâches d'inspection et l'enregistrement des données pour des capacités avancées de déclaration et de gestion des données. ARCHER 10XT offre une résolution supérieure, un débit plus rapide et une sensibilité accrue par rapport aux systèmes d'inspection conventionnels. Ce modèle est un choix idéal pour les fabricants de semi-conducteurs qui nécessitent une détection de défaut haute performance et précise.