Occasion LEICA / VISTEC MIS 200 #9254135 à vendre en France

LEICA/VISTEC MIS 200 est un système d'inspection automatisé des masques et plaquettes. Développé par LEICA, il offre des capacités rapides et fiables de détection et de classification des défauts grâce à ses techniques avancées d'imagerie, d'apprentissage automatique et de reconnaissance des motifs. Il maximise le contrôle de la qualité et accélère les processus de fabrication des masques et des plaquettes. LEICA MIS 200 est capable d'acquérir des images de chaque couche du masque ou de la plaquette avec son éclairage dynamique, son champ lumineux, son champ sombre et ses modes optiques à angle oblique. Il peut détecter et classer les défauts à l'échelle du nanomètre en raison de sa puissance d'imagerie supérieure et d'une variété de techniques d'inspection en ligne. Le système peut construire des images 3D de chaque couche sur des masques et des surfaces de plaquettes pour une détection plus précise. VISTEC MIS 200 dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive (UI) qui permet aux opérateurs d'effectuer des décisions plus rapides et mieux informées en matière de contrôle de la qualité. L'interface graphique est équipée d'opérations tactiles qui permettent de contrôler la navigation et la navigation, ce qui facilite l'expérimentation d'analyses de défauts complexes. Il dispose également d'un logiciel intégré d'analyse d'image, de correction d'image et d'analyse de cartes de défauts qui accélère et accélère les opérations de contrôle de la qualité. Pour la métrologie et le suivi des défauts, MIS 200 est intégré avec des algorithmes de reconnaissance de motifs et des technologies de détection des défauts robustes. Les algorithmes avancés détectent et classent précisément les défauts sur chaque couche du masque ou de la plaquette et créent un profil de défaut complet avec des capacités de détection et de mesure. Cela aide les opérateurs à effectuer des analyses plus poussées et à prendre des décisions éclairées. En outre, LEICA/VISTEC MIS 200 fournit des capacités de contrôle statistique des processus (RCP) pour surveiller le processus de fabrication et mesurer la qualité des produits. Cela permet de réduire les rejets et les gaspillages de masques et de plaquettes. En conclusion, LEICA MIS 200 est un masque haute performance et un système d'inspection des plaquettes. Il dispose de capacités fiables de détection des défauts, d'analyse des images et des défauts et de contrôle statistique des processus. Ses technologies avancées d'imagerie, de reconnaissance des motifs et d'apprentissage automatique permettent aux opérateurs d'identifier et de corriger rapidement les défauts, d'améliorer le contrôle de la qualité et de réduire les rejets et les gaspillages.