Occasion ELECTROGLAS 4085X #19607 à vendre en France

ELECTROGLAS 4085X prober est un équipement avancé de sondes et d'essais conçu pour mesurer, tester et analyser avec précision les dispositifs semi-conducteurs. 4085X est un système entièrement intégré qui offre des capacités de sondes hautes performances et des analyses de test automatisées, ainsi qu'une assistance diagnostique sophistiquée. Il est conçu pour améliorer le rendement et réduire le coût des tests en utilisant la sonde à grande vitesse, l'analyse avancée des défauts et la cartographie, ainsi que la vérification automatisée des règles DRC/LVS. ELECTROGLAS 4085X est basé sur des fonctions d'auto-positionnement exclusives ELECTROGLAS, qui permettent un positionnement rapide et un alignement précis. Son unité de commande en boucle fermée offre un contrôle de positionnement rapide et précis, tandis que son automate intégré assure un parallélisme précis. Ses mesures de bande à double tête fournissent une précision supplémentaire, tandis que son amélioration intégrée de la charge automatique assure un alignement optimal des faces de la matrice. Les systèmes de sondes et d'essais de 4085X comportent un outil d'interconnexion haute vitesse et haute résolution et un atout avancé d'alignement de sonde, qui comprend des fonctions telles que le test basé sur l'analyse, l'imagerie thermique et la localisation rapide des pannes. Son modèle avancé d'analyse de défaut fournit une représentation graphique des emplacements de défaut, et ses structures de test à faible puissance et haute résolution permettent un test complet des structures des appareils. ELECTROGLAS 4085X offre également un équipement complet de support diagnostique, avec une analyse et un reporting diagnostiques intelligents et basés sur des règles. Il fournit des détails sur les niveaux des circuits, les couches des matrices et les niveaux ESD, ainsi que des diagnostics intégrés et des contrôles des règles. De plus, son système de séquençage automatisé des tests permet d'effectuer des tests complets sur des substrats et des appareils individuels. 4085X est une unité de test et d'analyse des semi-conducteurs très avancée, conçue pour mesurer, tester et diagnostiquer avec précision les dispositifs semi-conducteurs. Ses systèmes d'auto-positionnement et d'alignement uniques, ses systèmes avancés d'alignement et de soutien diagnostique et ses structures d'essai à faible puissance et haute résolution en font un instrument idéal pour des essais et des analyses de semi-conducteurs supérieurs et rentables.