Occasion HITACHI NX 2000 #293622849 à vendre en France

HITACHI NX 2000
ID: 293622849
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).
HITACHI NX 2000 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour offrir une imagerie avancée, un débit exceptionnel et un débit d'échantillon élevé. Ce SEM permettra aux utilisateurs d'observer la morphologie de surface et la microstructure des échantillons allant de l'échelle nanométrique à des centaines de micromètres. Elle est particulièrement avantageuse pour le contrôle de plaquettes semi-conductrices par exemple. Ce microscope électronique présente de nombreuses caractéristiques avantageuses qui comprennent une variété de capacités d'imagerie, d'analyse et de mesure, des capacités à haute résolution et une grande distance de travail pour des observations à long terme. La grande distance de travail permet l'observation de plus grands échantillons et l'échange de composants si nécessaire. Cette machine fournit également une large gamme de grossissements de 100,000X à 1,000,000X. Par ailleurs, ce microscope électronique à balayage est un dispositif à vide ultra-élevé qui assure un environnement sans contamination lors des mesures. En outre, cet instrument offre un détecteur haute performance avec un excellent rapport signal/bruit et sensibilité. Cela permettra à l'utilisateur d'acquérir rapidement des images plus précises et détaillées. Ce microscope est équipé d'un système d'imagerie numérique haute résolution. Le système fournit aux utilisateurs différents modes de capture d'image et des capacités de traitement d'image. Cette unité est également capable de logiciels d'analyse automatisés qui peuvent identifier certaines caractéristiques des échantillons, y compris l'épaisseur et les défauts de particules. L'interface utilisateur conçue dans NX 2000 offre une simple plate-forme pilotée par ordinateur qui permet à l'utilisateur de configurer rapidement des opérations pour des tâches de routine. Cette unité fournit également un accès facile aux commandes et aux paramètres pour personnaliser l'expérience souhaitée. HITACHI NX 2000 est l'un des modèles les plus avancés de microscopes électroniques à balayage disponibles, et est un excellent outil pour les chercheurs et les professionnels de l'industrie dans le domaine de la science des matériaux. Cette unité donnera une vue précise et détaillée des micro-structures de matériaux qui ne seraient pas visibles avec d'autres microscopes électroniques. L'environnement interactif en temps réel de NX 2000 permettra en outre une étude efficace et opportune de la morphologie de surface et de la micro-structure des échantillons.
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