Occasion HITACHI S-2700 #9046624 à vendre en France

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ID: 9046624
Style Vintage: 1992
Scanning electron microscope (SEM) Noran 643C-1SSS EDS 1992 vintage.
HITACHI S-2700 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie amplifiée de matériaux durs et doux. Il est équipé avec une chambre SEM avec une norme 3.2kV le voltage d'accélération qui tient compte du fait de refléter à haute résolution de matériel différent. En raison de ses capacités d'imagerie de haute précision, S-2700 est largement utilisé pour des applications telles que l'analyse microstructurale, l'analyse des défaillances, la métallographie et l'analyse médico-légale. La principale composante de HITACHI S-2700 SEM est son canon à émission de champ (FEG), qui produit un faisceau d'électrons finement focalisé qui peut être utilisé pour l'imagerie de spécimens à des grossissements très élevés. La FEG accélère les électrons d'un filament de tungstène par l'utilisation d'une tension d'anode, ce qui conduit à un faisceau d'électrons primaire qui est minimisé en diamètre lors de son déplacement vers l'échantillon. Cela permet une imagerie focalisée et détaillée du spécimen à des grossissements très élevés. La configuration grand angle du S-2700 permet également de visualiser des zones plus grandes en une seule image, tandis que son objectif de 50 mm aide à produire des images très agrandies. Le SEM dispose également d'une conception intégrale de chambre, ce qui élimine la nécessité de systèmes supplémentaires de contrôle de l'atmosphère tels qu'un cryostat ou un équipement sous pression sous vide. Cela permet un environnement convivial pour la production d'images plus facilement. HITACHI S-2700 est livré avec deux détecteurs disponibles pour l'imagerie : un détecteur d'électrons secondaire et un détecteur d'électrons rétrodiffusé. Cela permet à la fois l'imagerie de surface et l'imagerie en coupe transversale, créant des images soit en émettant des électrons sur l'échantillon, soit en détectant des électrons diffusés à partir de l'échantillon pour une imagerie plus profonde. Le système de détection double aide à capturer les images 3D détaillées et donne aux utilisateurs plus de liberté pour explorer les images. S-2700 comprend également une unité de contrôle informatique intégrée qui permet un fonctionnement facile de la machine. Cet outil informatique est équipé d'une interface utilisateur graphique intuitive, ainsi que d'une large gamme de paramètres de traitement pour optimiser l'acquisition et la manipulation d'images. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage HITACHI S-2700 améliore considérablement l'imagerie et l'acquisition de données par rapport à d'autres microscopes, ce qui permet aux utilisateurs de produire des images à haute résolution de spécimens à des grossissements extrêmement élevés. Avec son atout double détecteur et son modèle de contrôle informatique facile, S-2700 est un excellent choix pour l'analyse microstructurale, l'analyse des défaillances, la métallographie et l'analyse médico-légale.
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