Occasion HITACHI S-3000 #9389796 à vendre en France

HITACHI S-3000
ID: 9389796
Scanning Electron Microscope (SEM).
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-3000 (SEM) est un dispositif de pointe pour l'exploration et l'imagerie d'une grande variété d'échantillons dans divers domaines. Cet instrument est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) qui émet des électrons avec des énergies allant jusqu'à 30 keV et a une haute résolution de 1 nanomètre. La conception unique de la colonne optique permet à l'opérateur d'obtenir un haut degré de précision et de répétabilité avec des vitesses de balayage rapides et un contrôle automatique de l'inclinaison. Le SEM dispose de trois axes de mouvement pour la manipulation complète de l'échantillon, y compris la rotation, la verticale et le positionnement latéral, permettant une imagerie sans inclinaison dans n'importe quel angle. Sa grande profondeur de champ lui permet d'acquérir des images de la surface et de la section intérieure d'un échantillon avec une grande fidélité. De plus, sa commande de balayage haute fréquence permet un balayage à haut débit qui fournit un plus grand niveau de détail pour diverses applications. Le système de vide haute performance de S-3000 assure un environnement d'imagerie stable et est capable d'atteindre des pressions aussi basses que 0,3 Pa. Sa source d'électrons HV FEG injectés fournit une meilleure stabilité et un plancher de bruit plus bas pour permettre de meilleures images de contraste et réduire le fond d'électrons rétrodiffusés si désiré. En outre, son système avancé de gestion thermique assure des performances stables lors de longues séances d'imagerie. En plus de l'imagerie haute résolution, le SEM est capable d'effectuer des études microanalytiques aux rayons X avec des systèmes EDXRF et EDS. Son unité d'assistance au jet de gaz en colonne permet une analyse précise de la surface de l'échantillon avec une limite de détection de 0,5 % d'atome. En outre, il a une large gamme de détection de rayons X de 2 keV à 10 keV avec une sensibilité d'analyse élémentaire de 4 à 5 fois meilleure que les dispositifs classiques de dérive de silicium. HITACHI S-3000 offre un niveau inégalé de résolution d'image, de répétabilité, d'exactitude et de polyvalence, ce qui en fait le choix idéal pour une gamme d'applications d'imagerie et d'analyse dans les matériaux et les sciences de la vie. Grâce à son interface utilisateur intuitive, à son étape d'échantillonnage facile à gérer et à ses fonctions de sécurité intégrées, il peut fournir des résultats fiables et précis afin de fournir aux chercheurs les données dont ils ont besoin pour prendre des décisions éclairées.
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