Occasion HITACHI S-4700 Type II #9259272 à vendre en France

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HITACHI S-4700 Type II
Vendu
ID: 9259272
Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (CFE-SEM) OXFORD EDS included Low kV performance with resolution of 2.1 nm at 1 kV (2) Secondary electron detectors.
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4700 de type II (SEM) est un puissant équipement de microscopie qui utilise un faisceau d'électrons à balayage pour produire des images à haute résolution de la surface d'un échantillon. C'est un outil polyvalent qui peut être utilisé pour l'imagerie et l'analyse d'une grande variété de matériaux, tels que les métaux solides, les tissus biologiques et les minéraux. HITACHI S 4700 TYPE II dispose d'un design unique à double colonne qui permet à l'utilisateur de choisir parmi une gamme de tensions d'accélération allant de 1 kV à 30 kV. Cela fournit une haute résolution spatiale et une faible dérive des spécimens, réduisant le besoin de focalisation fréquente. Le SEM est capable de produire des images haute résolution à des grossissements allant jusqu'à 500 000 x et peut produire des images en couleur pour mieux analyser certaines caractéristiques. S-4700 Le type II dispose d'une gamme de techniques avancées pour augmenter la précision et le contraste des images, telles que l'imagerie électronique rétrodiffusée (IESB), l'imagerie électronique secondaire (IES) et la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS). SEI permet l'imagerie avec des électrons ultra-petits et produit principalement des images topographiques, tandis que BSEI utilise des électrons plus massifs qui sont dispersés de l'échantillon et produit des images avec plus de caractéristiques de surface. La capacité EDS permet à l'utilisateur d'analyser la composition élémentaire et est utilisée principalement pour regarder des structures de couches minces. S 4700 TYPE II a de nombreuses caractéristiques qui le rendent idéal pour une variété d'applications, comme l'analyse nanométrique des semi-conducteurs et des dispositifs. Il est également capable de caractériser des échantillons biologiques ainsi que des matériaux tels que des polymères, des céramiques et des métaux. Le logiciel convivial et facile à utiliser fait du SEM un outil inestimable pour le milieu universitaire, la recherche et l'industrie. En outre, HITACHI S-4700 Type II est livré avec une variété d'accessoires sophistiqués tels qu'un moniteur vidéo, un système de vide, et une interface de caméra. Le système de vide intégré crée un environnement propre pour l'imagerie et l'analyse, tandis que l'interface de la caméra permet l'acquisition de données en temps réel. Le moniteur vidéo affiche des images haute résolution dans une variété de formats de visualisation. Dans l'ensemble, HITACHI S 4700 TYPE II est un outil d'imagerie sophistiqué et puissant utilisé pour l'analyse nanométrique de divers matériaux. Ses fonctionnalités et accessoires permettent à l'utilisateur de tirer le meilleur parti des capacités d'imagerie que SEM a à offrir.
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