Occasion HITACHI S-6280 #9265299 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI S-6280 est un appareil de microscopie avancé qui utilise l'imagerie numérique et la spectrométrie à rayons X dispersive d'énergie, ainsi que des capacités de spectroscopie avancées. C'est un instrument idéal pour caractériser des échantillons dans diverses applications, telles que l'analyse chimique et physique de cristaux ou de métaux, ou pour observer les microstructures de matériaux à l'échelle nanométrique. HITACHI S 6280 utilise l'imagerie électronique secondaire et rétrodiffusée, ainsi que la spectroscopie sans fenêtre basse tension, pour sonder des échantillons. Le faisceau d'électrons converge optiquement sur l'échantillon, ce qui donne des mesures d'imagerie et de spectroscopie à haute résolution. Le système est capable d'imagerie précise de matériaux inorganiques, organiques et polymériques dans une large gamme de tailles, des micromètres aux nanomètres. De plus, le microscope est capable d'analyser quantitativement une image SEM. Le microscope fonctionne à vide élevé et est équipé d'une étape de refroidissement permettant l'observation et l'analyse à basse température. La basse température est essentielle pour les matériaux isolants, tels que les polymères, et pour l'observation de la structure de surface et des propriétés thermiques des métaux. S-6280 dispose également d'un canon d'émission de champ pour le contrôle de la tension du faisceau, et d'une interface graphique conviviale. L'utilisateur peut ajuster l'énergie du faisceau d'électrons, la taille des taches, le temps de séjour et d'autres paramètres à l'aide de cette interface utilisateur. De plus, la S 6280 est capable de manipuler automatiquement des échantillons avec un étage motorisé X-Y à deux axes. Le grand étage de l'unité a une capacité de poids maximum de 10kg, ce qui le rend approprié pour les échantillons plus grands qui nécessitent un balayage. HITACHI S-6280 utilise trois types de détecteurs : deux détecteurs d'électrons secondaires, un détecteur EDS pour l'analyse des rayons X et un détecteur d'électrons rétrodiffusé. Le détecteur EDS intégré se combine avec le détecteur à rayons X pour l'analyse élémentaire non destructive, permettant une analyse et une caractérisation uniques de l'échantillon. La HITACHI S 6280 est également équipée d'accessoires en option tels qu'un étage de chauffage in situ pour étudier les propriétés thermiques, une collection de lentilles, un bras de transfert de vide et une chambre d'exposition. Le bras de transfert et la chambre d'exposition permettent à l'utilisateur de déplacer des échantillons vers et depuis le microscope sans contamination. S-6280 est une machine à microscope électronique à balayage puissant et polyvalent, avec des capacités d'imagerie et de spectroscopie avancées. Des matériaux inorganiques et organiques aux métaux, cet outil offre des capacités polyvalentes pour scanner et caractériser les échantillons à l'échelle micro et nanométrique. En outre, l'instrument intègre une gamme de détecteurs, ainsi que des accessoires optionnels, ce qui le rend idéal pour des applications de recherche dans un large éventail de domaines.