Occasion HITACHI S-650 #9080003 à vendre en France

HITACHI S-650
ID: 9080003
Scanning electron microscope, (SEM).
HITACHI S-650 est un microscope électronique à balayage (SEM) adapté à l'analyse et à l'observation de haute précision des microstructures ou de la topographie de surface des matériaux et des composants à l'échelle des microns. Ce SEM dispose d'une grande chambre, permettant l'examen d'échantillons jusqu'à 7 cm de largeur et jusqu'à 5,5 cm de hauteur. Il est également équipé d'étages d'échantillons de grande taille, permettant l'insertion d'échantillons de plus grande taille que ceux possibles avec d'autres SEM classiques. S-650 dispose d'un détecteur EST haute résolution, qui a une sensibilité élevée et une large gamme dynamique pour capturer les images haute sensibilité basse tension qui sont de plus en plus essentielles dans les études nanotechnologiques d'aujourd'hui. Ce détecteur a un courant de faisceau d'électrons de 200mA et un grossissement de l'ordre de 5 ~ 500k. On estime qu'il a une puissance de résolution d'environ 0,7 nm avec une tension d'accélération de 0,2 à 15 kV, et peut être utilisé à la fois pour les balayages haute vitesse et de haute précision. Les modes de balayage primaires sur ce SEM sont les électrons secondaires et les électrons rétrodiffuseurs. Avec des scans secondaires pour des échantillons plats et non conducteurs, des images SEM haute résolution et des profils de profondeur peuvent être produits. En plus de cela, HITACHI S-650 est également équipé de deux détecteurs de rétrodiffusion différents, vous donnant un courant de faisceau de commande et de focalisation en plus de la focalisation automatique et de la stigmatisation. S-650 est équipé d'une grande unité d'opération, permettant la capture d'informations bidimensionnelles en même temps. Avec cette caractéristique, l'utilisateur peut observer comment l'échantillon réagit au faisceau d'électrons, ce qui permet de contrôler et de manipuler la forme, le courant, la position et la plage de balayage du faisceau d'électrons. En plus de ses capacités de microscopie électronique à balayage haute performance (SEM), HITACHI S-650 est également livré avec un système intégré de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) pour l'analyse de composition chimique. Cette caractéristique permet de détecter différents éléments et de mesurer leurs concentrations relatives dans un échantillon donné jusqu'à quelques points de pourcentage. En conclusion, S-650 fournit un large éventail de fonctionnalités et de fonctions orientées vers l'imagerie SEM de haute précision. Sa grande chambre, son détecteur d'EST haute résolution, son système EDS intégré et son unité de fonctionnement conviviale permettent une imagerie précise, une analyse chimique de la composition et une manipulation de la forme et du courant du faisceau d'électrons.
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