Occasion HITACHI S-8C40 #139924 à vendre en France

HITACHI S-8C40 est un microscope électronique à balayage (SEM) avec une combinaison unique de haute résolution, grand champ de vision, et la facilité d'utilisation. L'instrument offre une large gamme de capacités allant de l'imagerie haute résolution à l'analyse élémentaire et à la reconstruction 3D. S-8C40 est équipé d'un détecteur d'électrons secondaires de grande résolution (SE) pour l'imagerie et d'un spectromètre à rayons X dispersifs d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire. En outre, le microscope est livré avec un système à vide bas en option pour une imagerie de meilleure qualité. HITACHI S-8C40 a une plage de tension d'accélération de 1-20kV, ce qui permet l'imagerie et l'analyse d'une variété d'échantillons avec une grande précision. Le détecteur d'électrons secondaire à haute résolution assure des images acérées avec un fort grossissement. Le SEM dispose également d'un dispositif de prise de vue automatisé qui permet de stocker et de visualiser des images à tout moment. De plus, S-8C40 dispose d'un stigmateur automatisé qui permet des réglages précis du faisceau de balayage. HITACHI S-8C40 prend en charge l'analyse rapide de reconstruction 3D à l'aide du logiciel optionnel. Cela permet de générer les données d'image en modèles 3D en quelques clics. Le logiciel permet également de régler des paramètres tels que l'agrandissement, la rotation et d'autres paramètres. L'analyse de reconstruction 3D est utile pour diverses études, y compris l'analyse morphologique et structurelle. De plus, S-8C40 peut fournir une analyse élémentaire des échantillons à l'aide du spectromètre à rayons X dispersants d'énergie installé (EDS). Pour ce faire, on enregistre les rayons X caractéristiques émis par l'échantillon afin d'identifier les éléments présents. L'EDS peut fonctionner en mode SEM et en microscopie électronique à transmission (TEM) pour une analyse élémentaire complète. En conclusion, HITACHI S-8C40 est un microscope électronique à balayage polyvalent qui peut être utilisé pour diverses applications allant de l'imagerie haute résolution à l'analyse élémentaire. Le SEM offre un ensemble de fonctionnalités avancées comprenant un détecteur d'électrons secondaire à haute résolution et un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS) pour la reconstruction 3D rapide et l'analyse élémentaire. Les caractéristiques matérielles et logicielles de S-8C40 garantissent des images de haute qualité et une analyse précise des spécimens.