Occasion HITACHI S-9380 Type II #9198865 à vendre en France
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ID: 9198865
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2007
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12"
2007 vintage.
HITACHI S-9380 Type II est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise une technique d'imagerie et d'analyse à haute énergie pour produire une image amplifiée d'un échantillon. L'équipement d'imagerie se compose d'un canon à électrons, de lentilles et de détecteurs qui sont utilisés pour détecter les électrons émis de la surface de l'échantillon sous le bombardement d'électrons. Le canon à électrons est un émetteur d'électrons qui produit les électrons nécessaires au balayage de la surface de l'échantillon pour l'imagerie. On utilise alors des lentilles pour focaliser les électrons sur la surface de l'échantillon, formant un faisceau. Enfin, les détecteurs recueillent les électrons rétrodiffusés de l'échantillon et servent à former les images. L'application principale d'un SEM est pour l'imagerie et la mesure d'échantillons à des grossissements plus élevés que les microscopes optiques peuvent offrir. S-9380 Le type II a une plage de grossissement standard allant jusqu'à 0,5 nm, et un grossissement maximal de 10,000X. Grâce à cette résolution accrue, le système est capable de détecter des caractéristiques beaucoup plus petites et une imagerie à plus haute résolution que les microscopes optiques traditionnels. L'unité fournit également une variété de techniques d'imagerie qui permettent la visualisation d'échantillons à différents niveaux de détail. Cela comprend l'utilisation de l'imagerie électronique secondaire (SE), l'imagerie de l'ESB et le balayage annulaire du champ sombre à angle élevé, ainsi que l'incorporation de la technologie de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS). La machine a une distance de travail de 8 mm et peut accueillir des échantillons jusqu'à 48mm de diamètre. Il dispose d'un outil de codage 3 axes pour le positionnement des échantillons et d'un atout autofocus numérique. Le modèle comprend également une variété de fonctionnalités logicielles telles que la mesure 3D, la tomographie 3D et les logiciels de caractérisation de précision. En outre, HITACHI S-9380 Type II est capable d'imagerie sous vide et à pression variable, permettant à l'utilisateur d'étudier des échantillons en temps réel à la pression atmosphérique ou sous vide. Il s'agit d'une caractéristique utile pour mesurer des surfaces sensibles aux effets de la pression atmosphérique, ainsi que pour étudier les détails plus fins de la surface d'un échantillon. Dans l'ensemble, S-9380 Type II est un puissant microscope électronique à balayage capable d'imager et de caractériser des échantillons avec une précision et un détail exceptionnels. Il fournit une variété de techniques d'imagerie, ainsi que des caractéristiques uniques telles que le faible vide et l'imagerie à pression variable, ce qui en fait un choix idéal pour une variété d'applications de recherche.
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