Occasion HITACHI S-9380 Type II #9243636 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI S-9380 de type II est un outil fiable et à haute résolution pour l'imagerie et l'analyse de divers matériaux à l'échelle nanométrique. Cet instrument de pointe combine des techniques avancées de préparation d'échantillons avec de puissantes capacités d'imagerie afin de fournir une plate-forme complète et polyvalente pour la manipulation d'échantillons durs et souples. S-9380 Le type II est équipé d'une colonne SEM à haute énergie capable d'accélérer les électrons jusqu'à une énergie de 30 kV. Cette colonne puissante permet à l'équipement de générer des images de plus haute résolution par rapport à celles obtenues par les instruments SEM traditionnels. De plus, le système est équipé d'un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie, qui permet à l'utilisateur de mesurer et d'identifier avec précision la composition élémentaire d'un échantillon. HITACHI S-9380 Type II est également équipé d'un détecteur d'électrons à balayage haute résolution, capable de recueillir des images à des résolutions allant jusqu'à 5 nm. Cette unité d'imagerie de haute qualité est idéale pour identifier avec précision les petites particules et même les structures subcellulaires dans un échantillon. De plus, la machine permet une variété de techniques d'analyse de surface, telles que la spectrométrie de masse d'ions secondaires et la microscopie à force atomique. Ces techniques d'analyse permettent à l'utilisateur de comprendre et d'analyser les propriétés et la composition chimique d'un matériau à l'échelle nanométrique. De plus, S-9380 Type II fournit aux utilisateurs un outil de manipulation d'échantillons dédié. Cet atout permet à l'utilisateur de préparer des échantillons minces et d'autres échantillons délicats avec une grande précision et précision. De plus, le modèle fournit à l'utilisateur une solution simple pour le transport et l'échange d'échantillons à l'aide d'un étage piloté par ordinateur. En résumé, HITACHI S-9380 Type II est un équipement de haute qualité de microscopie électronique à balayage qui fournit aux utilisateurs une plate-forme bien arrondie pour l'imagerie et l'analyse d'un large éventail de matériaux à l'échelle nanométrique. Ce système avancé est équipé d'une colonne SEM puissante, d'un détecteur haute résolution et de nombreuses capacités de préparation et d'analyse d'échantillons pour garantir une expérience de recherche et d'imagerie complète et polyvalente.