Occasion HITACHI S-9380 #9299017 à vendre en France

HITACHI S-9380
ID: 9299017
Taille de la plaquette: 6"
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 6".
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-9380 (SEM) est l'un des instruments les plus avancés et les plus polyvalents pour l'imagerie et la caractérisation d'une variété de matériaux et de surfaces. HITACHI S9380 est idéal pour les utilisateurs travaillant dans les domaines des matériaux et des procédés semi-conducteurs, de l'analyse des défaillances, de l'emballage, de l'optique, de l'électronique et de nombreuses autres applications. S 9380 est alimenté par un équipement d'analyse ultra haute résolution, offrant une résolution de 3,5 nm en SE et de 5 nm en ESB (rétrodiffusion d'électrons), ainsi qu'une grande dynamique et un grand champ de vision. Il est équipé d'un système de commande de faisceau E de haute précision, permettant d'obtenir des résultats d'imagerie et de caractérisation très précis et reproductibles. S9380 dispose également d'une unité de mesure spéciale à haute résolution des rayons X dispersifs d'énergie (EDX), permettant une analyse élémentaire rapide et de haute précision sans préparation d'échantillon spéciale, économisant du temps et de l'argent. S-9380 est très modulaire pour répondre à un large éventail d'exigences en matière d'échantillons, y compris différents types de porte-échantillons, caméras, détecteurs et étages. Les étages offrent également une excellente précision de mouvement et fiabilité, avec une résolution maximale en nanopositionnement de 0.5nm. Cela rend HITACHI S 9380 particulièrement adapté pour l'imagerie d'échantillons extrêmement petits et pour l'imagerie de haut grossissement. HITACHI S-9380 est également équipé d'une machine d'imagerie en colonne STEM (microscope électronique à transmission à balayage), permettant une imagerie encore plus haute résolution et une imagerie tridimensionnelle des échantillons. Il comporte une colonne électronique à pression variable, pour l'imagerie d'échantillons qui doivent être conservés dans un environnement très contrôlé. HITACHI S9380 peut également être équipé d'un spectromètre EDS optionnel, permettant une analyse élémentaire encore plus rapide et précise avec des limites de détection des rayons X ultra-faibles. Cet atout du spectromètre comprend également des options de filtrage d'énergie et de montage de détecteurs multiples, permettant d'améliorer le rapport signal/bruit et la sensibilité. Cela rend S 9380 idéal pour caractériser les matériaux et composants avancés. Enfin, S9380 est hautement automatisé, ce qui permet de répéter et d'automatiser facilement les tâches de numérisation, d'imagerie et de caractérisation. L'interface utilisateur conviviale et le logiciel intuitif rendent le fonctionnement simple et simple, ce qui permet de gagner du temps et de réduire les erreurs. Dans l'ensemble, S-9380 est un excellent microscope électronique à balayage pour examiner et caractériser une variété de matériaux et de surfaces, offrant une imagerie haute résolution, des porte-échantillons polyvalents et des étages, un spectromètre EDS avancé, ainsi qu'une interface conviviale.
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