Occasion HITACHI S9380-2 #9351431 à vendre en France

HITACHI S9380-2 est un microscope électronique à balayage (SEM) permettant aux utilisateurs d'observer la structure des échantillons à résolution subpixel. Il permet des observations sous vide élevé, ainsi qu'à des pressions faibles et élevées. En outre, un équipement d'imagerie puissant peut acquérir des images SEM avec un contraste élevé. Ce SEM dispose du détecteur d'électrons secondaire Schottky émetteur détecteur d'électrons pour une imagerie plus détaillée. De plus, le détecteur est installé dans le support CHELEX (Correction High Efficiency Low Energy Electron Detector), ce qui permet une grande durabilité et une imagerie fiable. Il est équipé d'une technologie de focalisation dynamique, ce qui facilite et accélère l'obtention d'images à haute résolution. S9380-2 système offre une variété de fonctionnalités pour le traitement et l'analyse du signal supérieur. Il s'agit notamment d'un étage d'échantillonnage motorisé, d'un contrôle automatique du courant et de la largeur du faisceau, d'un réglage en forme de faisceau variable, etc. L'unité de traitement vidéo avancée et les fonctions conviviales contribuent à améliorer la qualité des images en moins de temps. L'acquisition et la mesure de l'analyse spectrale des rayons X permettent aux utilisateurs d'analyser plus en détail les échantillons lorsqu'ils sont utilisés avec un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie. La machine de HITACHI S9380-2 a une haute précision Oxford Dans le contact bruker le détecteur et un outil de Pré-balayage d'AXSY2 pour l'acquisition d'image automatique. Le AXSY2 peut compenser l'instabilité de la tache du faisceau, fournissant un environnement d'imagerie idéal. Son acquisition rapide de données peut réduire considérablement le temps d'acquisition des images haute définition. Un actif d'acquisition d'images assisté par ordinateur est également inclus dans S9380-2, permettant à l'utilisateur d'ajuster la zone d'intérêt (AOI) et la plage de numérisation. Le modèle peut stocker les paramètres de chaque AOI pour une utilisation ultérieure, et offre plusieurs modes de capture d'image tels que l'imagerie à grande surface, l'imagerie multi-angle et l'imagerie à un seul plan. L'équipement dispose d'une fonction d'auto-polarité facultative qui peut être programmée pour capturer des images des côtés positifs et négatifs de l'échantillon. Il est équipé d'un système de bras eucentriques à sept axes pour accéder aux angles de balayage arbitraires nécessaires. D'autres fonctionnalités en option comprennent une unité à basse dépression (LVS) et une machine d'injection de navette à très grande vitesse (SSFIF). L'outil comprend une interface optionnelle à haut rendement pour contrôler le SEM à distance. Cela permet aux utilisateurs de contrôler le SEM depuis un endroit distant, leur donnant la flexibilité d'effectuer diverses opérations sans avoir à se rendre à la machine. De plus, l'actif supporte les communications Ethernet pour le transfert de données, permettant l'acquisition et l'analyse de données en temps réel. Pour la protection des échantillons, HITACHI S9380-2 SEM propose en option des filtres Filtepoint TM qui réduisent la quantité de particules chargées et de débris émis par l'échantillon. Il comprend également des étages de montage spéciaux et des accessoires pour faciliter la manipulation des échantillons. Pour la préparation des échantillons, S9380-2 est compatible avec une variété de porte-échantillons, y compris les stubs, le support d'échantillons MEMS et le porte-échantillons de nanoparticules. Ces caractéristiques rendent HITACHI S9380-2 idéal pour une gamme d'applications de recherche dans les domaines des semi-conducteurs, des films minces, de la science des matériaux, de la nanotechnologie, de la biologie et bien d'autres domaines. Il offre de puissantes capacités d'imagerie et d'analyse, permettant aux utilisateurs d'observer des échantillons avec une résolution subpixel pour plus de détails et de précision.