Occasion HITACHI WA 3300 #9232735 à vendre en France

HITACHI WA 3300 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir l'imagerie haute résolution et l'analyse de divers échantillons. Il dispose d'une technologie avancée d'émission Abbe et de champ pour une stabilité de focalisation optimisée, une résolution d'image améliorée et une vitesse et un débit de fonctionnement améliorés. La colonne primaire de l'instrument est équipée d'un canon à émission de champ (FEG) et d'une alimentation à haute tension, offrant une plus grande profondeur de focalisation et une aberration sphérique réduite. Cela permet une meilleure résolution d'imagerie et la stabilité de l'image sur une large gamme de grossissements simultanément. L'instrument peut être utilisé avec une variété de lentilles objectives, allant du faible grossissement - idéal pour les grands échantillons - à l'ultra-haut grossissement - parfait pour une analyse de surface détaillée. Le système d'analyse de masse (MAS) fournit une acquisition d'image remarquablement rapide, avec une colonne primaire et secondaire très intégrée, avec à la fois un détecteur de ligne à retard ultra-haute performance et un détecteur d'électrons secondaire de haute stabilité. Le MAS offre également une grande sensibilité pour observer un large éventail de matériaux, tels que les semi-conducteurs, les métaux et les matériaux céramiques et organiques. Le système de focalisation des faisceaux d'électrons (EBFS) est une caractéristique puissante et robuste de HITACHI WA3300, permettant un contrôle pratique du faisceau pour un faisceau d'échantillonnage optimal en ajustant la position transversale et longitudinale du faisceau. Cette caractéristique est particulièrement utile pour les échantillons présentant des surfaces inégales ou des caractéristiques complexes. WA-3300 dispose également d'un système d'imagerie et d'analyse unique, permettant l'observation en temps réel et l'optimisation des paramètres d'imagerie pendant l'imagerie et l'analyse. Le processus d'optimisation du faisceau électronique en temps réel simplifie la complexité du fonctionnement du SEM, simplifiant les flux de travail pour un fonctionnement efficace et des temps d'analyse courts. Enfin, WA3300 abrite une grande sélection d'accessoires SEM, tels que des unités automatiques de préparation d'échantillons, des options d'étapes automatisées eucentriques, des processeurs d'images SEM numériques et divers systèmes d'analyse et d'acquisition de données. Ces composants, combinés à la facilité d'utilisation et aux performances élevées, font du WA 3300 un choix idéal pour une variété d'applications d'analyse d'échantillons et d'imagerie.