Occasion HITACHI WA-3300S #293603568 à vendre en France

HITACHI WA-3300S
ID: 293603568
Atomic Force Microscope (AFM).
HITACHI WA-3300S est un microscope électronique à balayage qui permet d'observer la surface des échantillons minute avec une haute résolution et une profondeur de détail. C'est un outil polyvalent pour détecter, analyser et mesurer des matériaux jusqu'à l'échelle du nanomètre, pour révéler la topographie détaillée des échantillons et pour effectuer la microscopie électronique à balayage. L'instrument est conçu avec un étage d'échantillonnage motorisé et une grande chambre à vide. Il est capable d'effectuer à la fois l'imagerie à large surface et le balayage très localisé avec ses multiples géométries de faisceau. Il dispose également d'un fort grossissement jusqu'à 200kX, d'un champ de vision jusqu'à 68 mm et d'une résolution de 5 nm. WA-3300S dispose d'un système de radiographie dispersive d'énergie (EDS) capable d'effectuer une analyse énergétique de l'échantillon et d'identifier sa composition en quelques secondes. Cela permet une évaluation rapide des propriétés du matériau telles que la structure cristalline, la composition chimique, etc. De plus, HITACHI WA-3300S intègre un système de chargement d'échantillons contrôlé par ordinateur qui facilite le montage de l'échantillon à l'étape de l'échantillon. L'instrument est également doté d'un mécanisme automatisé de reconnaissance des spécimens, d'inclinaison et de focalisation pour une manipulation rapide des étapes. Cette fonctionnalité permet le balayage d'échantillons à différents angles d'inclinaison, ce qui est précieux pour analyser l'échantillon sous tous ses aspects. WA-3300S dispose également d'une unité de traitement de données externe (EPDU) qui est conçue pour optimiser la qualité de l'image et obtenir une résolution plus élevée à partir d'échantillons d'une large gamme de tailles. Cette unité permet le traitement et l'analyse d'images SEM en direct et peut stocker jusqu'à huit images pour rappel instantané. HITACHI WA-3300S offre une combinaison optimale de capacités de haut grossissement et de résolution ainsi que la capacité d'exécuter une gamme de processus analytiques. C'est un excellent outil pour l'analyse de surface, la recherche de matériaux, la nanotechnologie et plus encore.
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