Occasion JEOL JEM 2010 #9397253 à vendre en France

Un JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) qui fournit des capacités d'imagerie supérieures pour analyser la structure d'une large gamme de types d'échantillons à l'échelle nanométrique. Il est idéal pour les applications dans les sciences des matériaux et l'ingénierie, la géologie, la biologie, et plus encore. JEOL JEM-2010 offre une gamme de spécifications et de fonctionnalités qui en font un outil puissant pour les études analytiques. JEM 2010 est un SEM d'émission de champ qui utilise une source d'électrons sans bavure et non filamentaire pour produire des images de haute qualité et haute résolution avec le plus grand contraste possible. Il est équipé d'un canon à émission de champ ultra haute résolution, d'un détecteur d'électrons rétrodiffusé très sensible et d'un système de focalisation automatique pour capturer des images détaillées à l'échelle nanométrique jusqu'à 0,2 nm. Son ultra-haute résolution de masse permet à JEM-2010 de fournir des images des couches atomiques les plus éloignées d'un échantillon. En plus de ses puissantes capacités d'imagerie, JEOL JEM 2010 offre également la spectrométrie aux rayons X et la fonctionnalité EDX (Energy Dispersive X) pour analyser la composition d'un échantillon. Il est équipé d'un détecteur de rayons X, d'un spectromètre dispersif de longueur d'onde et d'un système dispersif d'énergie pour détecter les informations sur la concentration d'éléments chimiques dans un échantillon. JEOL JEM-2010 propose également une gamme d'outils de manipulation de spécimens tels qu'un étage d'échantillonnage rotatif et un basculement automatique. Cela aide les chercheurs à tester diverses conditions d'échantillonnage rapidement et avec précision. JEM 2010 dispose d'une large gamme de grossissements adaptée à l'analyse d'une large gamme de tailles d'échantillons. Il offre des grossissements maximum jusqu'à 300.000x avec une puissance minimale de 2 MV. Il a également une plage d'angle d'inclinaison de 10-90 degrés pour l'imagerie 3D et une plage de contrôle d'échantillon de précision de 0,3nm. Ceci garantit que l'échantillon est toujours à la bonne distance du faisceau d'électrons pour des mesures précises. JEM-2010 est capable d'imagerie à basse ou haute température, avec une plage optimale de -25 ° C à + 80 ° C Il permet également à l'utilisateur d'ajuster le courant du faisceau, la taille des taches et les filtres spectraux d'électrons réglables pour une plus grande polyvalence dans les données collectées. Les capacités d'imagerie avancées et les fonctionnalités plus larges de JEOL JEM 2010 en font un outil idéal pour la recherche à l'échelle nanométrique.