Occasion JEOL JSM 5900LV #9314353 à vendre en France

JEOL JSM 5900LV est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications en science des matériaux, en sciences de la vie et en inspection industrielle. C'est un SEM à haute résolution et à faible vide (LV) qui est capable d'imiter une variété de tailles et de formes d'échantillons, du nanomètre à l'échelle millimétrique. JEOL JSM-5900LV est équipé d'un canon à électrons haute performance de type « in-lens » équipé d'un système à double canon. La plage de courant du faisceau de 0,1 pA à 15 nA permet l'imagerie haute résolution et l'analyse élémentaire avec EDX Agri. Il est aussi équipé avec un fusil d'émission de terrain pour l'opération à vide prolongée qui fournit la haute sensibilité reflétante et les RÉDACTEURS ElementalComp. JSM 5900 LV a une impressionnante plage de grossissement de 15x à 1.000.000x, permettant l'imagerie de la sous-nm jusqu'à 60.000 fois la taille originale. Il est également suffisamment sophistiqué pour utiliser une variété de modes d'imagerie, y compris les électrons secondaires (SE), les électrons rétrodiffusés (ESB), les électrons secondaires dans les lentilles (ISEL) et l'imagerie stéréo à haute résolution (MP). Grâce à son imagerie haute définition et à son système de reconnaissance de motifs optionnel de type dans l'objectif, les utilisateurs sont en mesure de détecter des caractéristiques minuscules dans l'échantillon. En outre, JSM-5900LV est équipé d'une large gamme de détecteurs et de capacités d'imagerie numérique pour la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDX/TireComp) et la microscopie électronique à balayage analytique (ASTM). L'EDX est utilisé pour l'analyse chimique qualitative et quantitative, tandis que l'ASTM peut être utilisé pour l'imagerie des distributions de localisation et de composition dans l'échantillon. JSM 5900LV est également capable d'une imagerie SEM simultanée et d'une analyse EDX, rendant la caractérisation des échantillons plus facile et plus rapide. Avec ses capacités d'imagerie polyvalentes, JEOL JSM 5900 LV est bien adapté à une grande variété d'applications en sciences des matériaux, des sciences de la vie et de l'industrie. Ce SEM est capable d'imiter divers échantillons, comme les BPC, les métaux, les céramiques, les composites, les nanotubes de carbone et les petits spécimens biologiques. Son imagerie haute résolution permet aux utilisateurs d'examiner les spécimens en détail et de faire des mesures précises. JEOL JSM 5900LV fournit aux utilisateurs un microscope électronique à balayage avancé et fiable pour l'imagerie d'une large gamme d'échantillons matériels.