Occasion JEOL JSM 6700F #9373197 à vendre en France

JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) conçu pour la science des matériaux et les applications de microscopie bioélectronique. Le SEM est capable d'imager des caractéristiques d'échelle micron avec un haut niveau de précision et de détail en raison de sa haute résolution à ses énergies d'imagerie de 1,0 à 30kV. La tension source est réglable et la tension d'accélération maximale peut atteindre 20kV. JEOL JSM 6700 F utilise des détecteurs d'électrons secondaires (SE) et d'électrons rétrodiffuseurs (ESB) pour l'imagerie, permettant une large gamme de possibilités d'imagerie avec d'excellentes images et un meilleur contraste. Il est également équipé d'un détecteur SE In-lens, qui permet une imagerie supérieure de la partie supérieure des échantillons, tels que ceux trouvés dans les matériaux et la biologie organique. Le courant du faisceau est réglable et le microscope est également capable d'imiter différents types d'échantillons, tels que des échantillons inorganiques, des nanomatériaux, des échantillons biologiques et des CI. En outre, de nombreuses caractéristiques particulières accompagnent JSM 6700F, comme un filtre d'énergie dans la colonne pour l'imagerie d'échantillons sensibles à l'énergie, un système de focalisation automatique pour ajuster rapidement la focale d'imagerie, une conception sans déversement pour la sécurité environnementale et pour l'imagerie de matières dangereuses, et un logiciel EFI pour l'imagerie et l'analyse automatisées. L'étage d'échantillons de carbone vitreux inclus peut être utilisé pour un large éventail de conditions d'imagerie et il peut contenir à la fois des échantillons humides et des échantillons chauffés jusqu'à 600 ° C Au total, JSM 6700 F est un SEM exceptionnellement précis et polyvalent qui convient à un large éventail d'applications en science des matériaux et en microscopie bioélectronique.