Occasion JEOL JWS 7515 #136964 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JWS 7515 (SEM) est l'analyseur idéal pour l'observation et l'analyse à haute résolution d'une grande variété de matériaux. L'instrument utilise une source d'électrons d'émission de champ pour scanner un échantillon avec une résolution extrêmement élevée, généralement inférieure à 150nm et une profondeur de champ d'environ 4,5µm. Le détecteur d'électrons secondaires à haute performance dans la lentille fournit les images d'électrons secondaires les plus élevées possibles et la possibilité d'utiliser un détecteur d'électrons rétrodiffusés dans la lentille pour la topographie de surface grossière et la cartographie de la composition. Le détecteur d'ESB en colonne produit également des images de rapport signal/bruit plus élevé que les détecteurs STEM/BF et est inégalé en termes de collecte de détails de surface. En outre, JEOL SEM dispose également d'un étage multi-positions de haute précision pour comparer automatiquement différentes zones d'un échantillon, tandis que deux fenêtres distinctes - une pour l'échantillon et une pour l'écran de vue - facilitent l'observation et le contrôle de l'imagerie. JEOL JWS-7515 est compatible avec une multitude d'options, y compris l'enregistrement numérique d'images (DIC) avec une caméra vidéo couleur, le traitement vidéo en temps réel, l'opération de balayage numérique en ligne, l'analyse 3D et les paramètres de résolution, EDS (spectrométrie de rayons X dispersive d'énergie), cathodoluminescence (CL), et EBIC (courant induit par faisceau d'électrons). Avec toutes ces options, JWS 7515 est très polyvalent et capable d'imiter une variété de matériaux, des semi-conducteurs aux échantillons métallurgiques. JEOL SEM dispose d'une interface très conviviale, permettant un échange d'échantillons et une collecte de spectre plus rapides, ainsi que l'acquisition et le stockage de données en temps réel, une télécommande plus rapide de l'instrument et une grande bibliothèque de paramètres standard en usine pour faciliter le fonctionnement de l'instrument. De plus, le micro-ordinateur qui contrôle l'instrument conserve toujours les performances optimales, tandis que le logiciel JEOL SOFTWARE 2.0 permet aux utilisateurs d'enregistrer et de réutiliser les paramètres de l'instrument, d'effectuer des superpositions d'images et de modifier les paramètres vidéo au besoin. JWS-7515 est un SEM puissant conçu pour répondre aux besoins des analyses de laboratoire avancées. Il offre une excellente résolution, des performances exigeantes et des caractéristiques de pointe qui lui permettent de fournir des résultats d'imagerie inégalés d'une large gamme de matériaux.