Occasion JEOL JWS 7515 #293621560 à vendre en France

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ID: 293621560
Style Vintage: 1997
Wafer inspection system 1997 vintage.
JEOL JWS 7515 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour une variété de techniques et d'observations analytiques exigeantes. Il a une conception polyvalente qui peut être utilisé pour les opérations à vide élevé et faible. JEOL JWS-7515 est un SEM d'émission de champ avancé avec une résolution ultime de 1,7 nm. Il dispose d'un détecteur numérique d'électrons secondaires (SE2) dans la lentille, d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) et d'un filtre à énergie. Les détecteurs permettent l'imagerie et l'analyse élémentaire. Le filtre d'énergie permet également l'imagerie et l'analyse tout en limitant l'énergie de certains électrons impairs. Le SEM fonctionne avec une multitude d'applications d'imagerie et d'analyse, y compris l'imagerie, l'analyse de surface et l'analyse de particules. Utilisé pour l'imagerie, JWS 7515 offre un haut niveau de détail et de contraste. Il dispose également de capacités spéciales telles que l'empilement en Z d'images multiples pour produire des images 3D. JWS-7515 offre également une variété de détecteurs pour améliorer les capacités d'analyse. Cela inclut le détecteur d'ESB à froid qui détecte des éléments plus légers comme l'hydrogène et l'hélium. Il propose également des détecteurs spécialisés tels que le spectromètre de dispersion doublé à rayons X (XLDS) qui peut être utilisé pour la microanalyse d'éléments multiples avec une résolution énergétique de 0,3 eV. JEOL JWS 7515 offre un large choix de routines d'analyse automatisées grâce au système de contrôle automatisé (CAC) de la SEM. Des fonctionnalités telles que le balayage automatique, le fonctionnement automatique et l'acquisition automatique de données pour l'analyse élémentaire, le piquage d'images et l'inspection de surface sont de série. Cela rend le SEM beaucoup plus facile à utiliser et augmente sa productivité globale. En résumé, JEOL JWS-7515 est un microscope électronique à balayage en haut de la ligne capable de fournir des images complexes et des résultats précis. Il offre une imagerie haute résolution et plusieurs capacités d'analyse avec ses différents détecteurs. Les routines d'analyse automatisées spécialement adaptées fournies par CAC rendent le fonctionnement de ce SEM rapide et facile. Toutes ces fonctionnalités font de JWS 7515 un instrument très efficace pour diverses applications.
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