Occasion JEOL JWS 7515 #9174206 à vendre en France

JEOL JWS 7515 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil avancé pour les chercheurs. Ce SEM offre une variété de caractéristiques pour examiner un large éventail de surfaces de matériaux avec détail et précision. Sa conception unique permet un large éventail d'applications, de l'inspection des matériaux aux études nanotubulaires. JEOL JWS-7515 dispose d'un canon à émission de champ avancé (FEG) pour l'imagerie haute résolution. Sa tension maximale d'accélération de 5kV permet une imagerie haute résolution à des grossissements élevés. Le dispositif est équipé d'une grande chambre activement stabilisée qui permet le déplacement des échantillons jusqu'à 80mm de diamètre. De plus, le SEM dispose d'un puissant filtre d'énergie post-colonne (PCEF) qui permet une identification précise des éléments. En plus de la capacité d'imagerie haute résolution, JWS 7515 dispose d'une variété de fonctionnalités conviviales. Il dispose d'un logiciel convivial, avec des collections automatisées et l'analyse automatisée des données. De plus, le système offre également une correction automatique de la dérive avec le FEG pour améliorer la stabilité et la répétabilité de l'image. JWS-7515 dispose d'un étage d'échantillonnage automatisé robuste avec une large gamme d'échantillons. Il est capable d'imiter des échantillons non conducteurs avec son canon à électrons à pression variable intégrée. De plus, l'équipement supporte plusieurs détecteurs pour recueillir des données sous de multiples angles. Le dispositif offre également une station de préparation d'échantillons de haute puissance avec trois colonnes pour un chargement facile des échantillons. JEOL JWS 7515 dispose également d'un système de commande d'inclinaison unique qui permet des angles d'inclinaison réglables. Cette caractéristique garantit que l'échantillon est suffisamment exposé au faisceau d'électrons et les données sont acquises même à partir d'échantillons difficiles à atteindre. Enfin, JEOL JWS-7515 est extrêmement fiable grâce à son ingénierie avancée. Il est conçu avec des caractéristiques pour protéger l'échantillon contre les dommages dus à l'irradiation électronique. De plus, le SEM est très efficace dans le filtrage des électrons, ce qui permet une acquisition de données plus fiable et de grande qualité. En résumé, JWS 7515 est un puissant microscope électronique à balayage qui est équipé d'une large gamme de fonctionnalités et de logiciels conviviaux. Il est capable d'imagerie avancée à haute résolution, ainsi que l'identification précise des éléments. De plus, le SEM offre la préparation automatisée des échantillons et le contrôle de l'inclinaison, ainsi que l'analyse des données et la correction de la dérive. C'est un outil fiable et robuste qui est idéal pour les chercheurs et les ingénieurs qui nécessitent une imagerie et une analyse détaillées.