Occasion PHILIPS / FEI XL 30 #9314369 à vendre en France

PHILIPS/FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu et fabriqué par la société PhillipsFEI. Le SEM tout usage produit des images haute résolution, présente des dommages ioniques à faible spécimen, et peut être utilisé pour une variété de techniques d'analyse de spécimen. Le FEI XL 30 s'appuie sur un canon à émission de champ thermionique pour émettre des électrons, équipé d'un système traditionnel de champ électrique de dét et de double ouverture. Cette conception permet à PHILIPS XL30 de présenter une excellente clarté d'image et la stabilité de la structure même à des grossissements élevés. PHILIPS XL 30 comprend une grande chambre à vide à haute stabilité et une colonne optique sans réaction de champ magnétique. La combinaison de ces deux caractéristiques permet d'effectuer toute une gamme de techniques d'analyse de spécimens. Il est possible d'utiliser plusieurs détecteurs, techniques d'imagerie et système d'autofocus pour ajuster la qualité de l'image et obtenir des images révélant la structure de surface détaillée de l'échantillon. Le SEM produit des images avec un fort contraste d'échantillon en raison de son système d'imagerie, tandis que sa faible énergie de faisceau d'électrons cause des dommages minimes à l'échantillon. Le fonctionnement de PHILIPS/FEI XL30 est intuitif, avec un panneau de commande facile à utiliser qui permet de régler le courant du faisceau et d'accélérer la tension. Le réglage du courant du faisceau est simple et peut se faire avec un clignotement d'un interrupteur. Pour le confort de l'utilisateur, XL30 est conçu avec une fonction de vibration basse fréquence et d'amortissement du bruit. Spécialement conçu pour l'imagerie haute résolution d'échantillons non conducteurs, le FEI XL30 peut être utilisé pour l'imagerie, la mesure et l'analyse d'une grande variété d'échantillons. En termes d'analyse des échantillons, XL 30 peut effectuer une analyse qualitative, chimique ou 3D de tout type d'échantillon. Lorsqu'il est utilisé avec un détecteur de rétrodiffusion, l'inspection d'échantillons faiblement conducteurs devient possible, tandis qu'un support SEM peut être utilisé pour faire tourner l'échantillon. De plus, PHILIPS/FEI XL 30 travaille en combinaison avec une gamme de détecteurs dispersifs d'énergie pour fournir une analyse élémentaire semiquantitative à un niveau plus profond. FEI XL 30 SEM est très polyvalent et adapté à une gamme de techniques d'analyse de spécimens, produisant des images à haute résolution avec des dommages minimes à l'échantillon. Convivial et intuitif, il peut être utile aux scientifiques et aux chercheurs qui cherchent à effectuer une analyse détaillée de divers spécimens.