Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9211547 à vendre en France

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AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2
Vendu
ID: 9211547
Defect review system, parts system.
AMAT/MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision G2 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes qui combine des performances améliorées d'imagerie et de numérisation avec des capacités avancées de détection et de classification des défauts pour permettre une caractérisation rapide et précise de tous les défauts de masque et de matrice. Le système est conçu pour détecter les anomalies lors d'une inspection à zoom unique ou à plusieurs niveaux. Il propose également des algorithmes avancés pour détecter des défauts ou des défauts de processus précédemment invisibles. L'unité comprend un wafer/masque-viewer avec un scanner laser intégré pour l'agrandissement et l'imagerie haute résolution. AMAT SemVision G2 a un petit facteur de forme léger et une utilisation pratique, ce qui en fait le choix idéal pour les environnements de niveau de référence et de semi-conducteur fab. Il dispose d'un éclairage LED haute puissance pour améliorer le contraste et une machine optique sophistiquée pour une inspection rapide et précise. Un outil intégré d'inspection de la planéité de la plaquette/du masque assure que les surfaces du masque et de la matrice restent planes et nivelées. L'actif est conçu pour être facile à mettre en place et à étalonner, avec une variété d'options disponibles pour différents scénarios d'inspection. Cela permet aux utilisateurs d'inspecter rapidement de grands volumes d'appareils dédicacés en quelques secondes. La vitesse d'inspection du modèle permet de capturer jusqu'à 1 million d'images en quelques minutes. MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision G2 offre également un support pour l'Auto Defect Review (ADR) afin d'améliorer la précision de caractérisation des défauts. L'équipement SemVision G2 prend également en charge l'imagerie par défaut, permet aux utilisateurs de visualiser plusieurs images d'un défaut à la fois dans la surface de la plaquette et la cartographie transversale. Cela aide à classer avec précision les défauts selon la forme, la taille et l'emplacement des dispositifs. Le système prend également en charge divers types d'algorithmes de détection de défauts tels que les règles, l'appariement de motifs et l'analyse d'image pour mieux identifier et caractériser les défauts. En outre, l'unité offre également des capacités d'imagerie en temps réel co-site pour l'inspection rapide et précise des défauts. AMAT/MATÉRIAUX APPLIQUÉS La machine SemVision G2 offre un temps de retournement rapide, une excellente répétabilité et des performances d'équipement précises. Avec un éditeur intégré, les utilisateurs peuvent rapidement revoir les images d'inspection, créer des schémas de mise en page de masque et de plaquette, et ajuster le contraste et la luminosité de l'image. Une interface utilisateur intuitive fournit également des informations claires sur la couverture des défauts et la clarté des défauts. Avec ses capacités améliorées et ses nombreuses fonctionnalités, AMAT SemVision G2 est la solution idéale pour les besoins d'inspection des masques et des plaquettes.
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