Occasion CAMECA TOF-IMS 4F #9351327 à vendre en France

CAMECA TOF-IMS 4F est un spectromètre de masse ionique secondaire (SIMS) de haute performance développé par CAMECA pour étudier les surfaces et les interfaces. Sa conception est basée sur la technologie de spectrométrie de masse temps de vol (TOF) et un équipement optique ionique à quatre champs. L'instrument utilise une source d'ions secondaire pour générer des faisceaux d'ions focalisés qui sont dirigés vers la surface de l'échantillon. Les ions interagissent avec l'échantillon lorsqu'ils interagissent dans le profil de profondeur de l'échantillon, ce qui permet le profilage de profondeur et la caractérisation des surfaces et des interfaces. Les ions secondaires sont séparés selon leur rapport masse/charge et détectés à l'aide d'un détecteur MCP. La caractéristique TOF du système permet une acquisition rapide de spectres de masse et une identification élémentaire complète. L'unité TOF-IMS 4F a une résolution spatiale améliorée, permettant un profilage de profondeur et une imagerie plus précis. L'optique ionique est composée d'une cathode source de plasma, d'une machine d'extraction différentielle, d'un miroir ionique et d'un suppresseur d'électrons secondaire. L'outil d'optique ionique permet l'acquisition rapide de spectres de masse d'ions secondaires à haute résolution à partir de la surface de l'échantillon. Le détecteur d'électrons à basse énergie couplé au gaz (GC-LEED) peut également être utilisé pour l'imagerie de la surface de l'échantillon. CAMECA TOF-IMS 4F offre également un large éventail d'applications, telles que l'analyse de surface, la caractérisation des matériaux, le profilage de profondeur des couches atomiques, l'imagerie des structures de surface et la caractérisation des échantillons. L'actif peut également être utilisé pour des applications d'identification élémentaire et d'analyse de surface, y compris la caractérisation des semi-conducteurs, l'analyse de surface et d'interface, la caractérisation de la contamination et l'analyse des défaillances. TOF-IMS 4F est un outil puissant et polyvalent pour la recherche sur les matériaux, offrant une grande sensibilité et vitesse, une faible consommation d'énergie et d'excellentes capacités de caractérisation des échantillons. En outre, le modèle peut être amélioré avec des accessoires supplémentaires pour des capacités supplémentaires.