Occasion FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR Laminar Flow Series II #69187 à vendre en France

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR Laminar Flow Series II est un équipement robuste, innovant et très précis de test et de métrologie de plaquettes spécialement conçu pour les applications avancées de semi-conducteurs, tels que les tests microélectroniques, l'intégration 3D et la métrologie, la fabrication de plaquettes et le nettoyage des plaquettes. Il offre des solutions complètes avec les dernières fonctionnalités et fonctionnalités à des prix compétitifs. La Série II comprend un système modulaire et évolutif adapté aux besoins de chaque application, avec des options allant des opérations manuelles de base à des tests de pointe entièrement automatisés avec un suivi en temps réel et un diagnostic complet des défauts. La nature modulaire de l'unité permet une intégration complète avec la ligne de production, le réseau et les plateformes utilitaires, assurant une visibilité et un contrôle complets du processus du début à la fin. La Série II utilise une conception d'écoulement laminaire, où l'air est attiré à travers la surface de la plaquette par une série de ventilateurs à vide et de petits canaux. Cela permet de contrôler étroitement les conditions environnementales, de réduire les risques de contamination et de maximiser la précision des essais. Afin d'assurer la meilleure précision, la machine est conçue avec la possibilité d'échantillonner les deux pièces de la plaquette simultanément, fournissant un suivi de position extrêmement précis et une comparaison des résultats de l'échantillon. La série II propose également des solutions logicielles avancées pour l'analyse de données et l'apprentissage automatique, permettant l'optimisation et la découverte de paramètres jusque-là inconnus. Ces fonctionnalités sont également intégrées dans les systèmes de flux de travail et de communication, permettant l'accès à distance et le partage d'ensembles de données avec d'autres processus. Pour assurer la plus grande précision, la Série II utilise également des solutions d'analyse optique avancées, telles que la microscopie confocale, l'interférométrie, la caractérisation optique et la microscopie à balayage. Ces solutions permettent aux chercheurs d'effectuer une analyse approfondie des structures jusqu'à l'échelle du nanomètre, avec une précision et une répétabilité extrêmement élevées. En résumé, FSM Laminar Flow Series II wafer testing and metrology tool est un atout innovant et puissant pour tester des applications à différentes échelles, du niveau nanométrique à la production à grande échelle. Il offre une intégration complète dans la ligne de production, le réseau et les systèmes utilitaires, une conception de flux laminaire pour le contrôle de la contamination, et des solutions logicielles avancées pour l'analyse des données et l'apprentissage automatique. Il propose également des solutions d'analyse optique pour faciliter la précision et la précision dans la recherche, les essais et la production.