Occasion KLA / TENCOR AIT 1 #151017 à vendre en France

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KLA / TENCOR AIT 1
Vendu
ID: 151017
Particle counter for LED (Sapphire) application.
KLA/TENCOR AIT 1 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie qui permet aux entreprises de semi-conducteurs d'assurer la qualité du produit en testant, inspectant et caractérisant leurs étapes de processus sur une gamme de paramètres électriques et optiques critiques. Ce système est conçu pour répondre à des environnements de production à haut volume et des caractéristiques de support de 2 à 32 microns sur les substrats de plaquettes les plus avancés d'aujourd'hui. L'unité intègre les capacités de test des plaquettes, de métrologie et de révision des défauts dans une plate-forme unique permettant des performances rapides, répétables et fiables. Il dispose d'une application à haute vitesse indépendante de métrologie 3D sans contact et d'analyse des défauts, analyse rapide balayage laser faisceau, et Die-to-Database wafer capacités de test. La métrologie haute résolution de KLA AIT 1 permet de détecter avec précision les défauts, y compris les hillocks, les trous de clé, les flocons et les pores, ainsi que de mesurer les paramètres liés aux dimensions critiques sur les surfaces de la matrice. L'analyse intégrée du faisceau laser de balayage effectue des mesures de forme 3D en temps réel et aide à identifier les facteurs de forme anormaux dans la matrice qui peuvent avoir un impact drastique sur la performance de l'appareil. Il aide également à identifier les défauts paramétriques tels que les défauts avant fabrication de grille courte, BTI et autres défauts liés aux contraintes qui peuvent être détectés avant le tri et l'assemblage des plaquettes. La solution de test die-to-database à haut avantage effectue avec précision des tests sur divers produits, y compris la mémoire flash, la mémoire du contrôleur et les IC RF. Il offre une solution de base de données de défauts qui capture les détails de performance de l'appareil comme un travail post-processus. Cette solution intégrée fournit une base de données pour stocker certains paramètres liés aux tests, analyser les tendances des défauts et insérer facilement des données dans la base de données logicielle. La machine TENCOR AIT 1 offre une plate-forme de test multifonction qui combine métrologie haute résolution, analyse des défauts et capacité de test des plaquettes. L'outil de test et de métrologie des plaquettes aide à améliorer le rendement des produits et à réduire la variation des processus en optimisant la qualité des dispositifs semi-conducteurs. C'est un atout idéal pour ceux qui recherchent une solution automatisée, répétable et fiable pour le contrôle de qualité et les faibles taux d'échec.
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