Occasion KLA / TENCOR M-Gauge 300 #128691 à vendre en France

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ID: 128691
Thickness measurement system, 6"-8" Non-Contact Wafer monitor for Sheet Resistance Digital data converter, model 20 03030 Does not include printer Power requirements: 100V, 1A, 1ø, 50Hz Measurement Range: 1m ohm/square to 1,999 m ohm/square Ω/mΩ Switch ( on rear of measurement head ) Power Switch ( rear panel ) Measurement head Wafer carriage Display Disk access door Main / Auto button Start / Standby button 1996 vintage.
L'équipement KLA/TENCOR M-Gauge 300 est un système d'essai et de métrologie avancé utilisé pour la fabrication de haute technologie. Cette unité est souvent utilisée pour mesurer et contrôler l'épaisseur, la planéité, la rugosité, l'homogénéité et d'autres caractéristiques des plaquettes utilisées pour la fabrication de dispositifs semi-conducteurs et d'autres produits optoélectroniques. KLA M-Gauge 300 utilise un profil tridimensionnel pour une métrologie précise des caractéristiques de surface 2D et 3D des plaquettes. TENCOR M-Gauge 300 utilise une plate-forme de balayage à 5 axes composée de deux axes de balayage indépendants : les axes X et Y, qui contrôlent les déplacements du scanner sur la surface de l'échantillon, et l'axe Z, qui contrôle la hauteur du scanner. Cette plate-forme de balayage permet des mesures individuelles précises de chaque caractéristique sur la surface de la plaquette, ainsi que des mesures de topographie et de rugosité parfaitement intégrées. De plus, M-Gauge 300 offre une machine d'étalonnage automatisée pour chaque axe de balayage, permettant aux utilisateurs de régler rapidement et précisément la surface de la plaquette pour correspondre à une surface de référence connue, et d'obtenir le plus haut niveau de précision possible dans l'ensemble de données de métrologie. KLA/TENCOR M-Gauge 300 fournit un ensemble d'outils complet pour le test de Wafer et la métrologie. Cela comprend des caractéristiques telles que le fraisage par faisceau ionique focalisé, le retrait du matériau laser, l'interférométrie et l'imagerie vidéo. Ces outils permettent aux utilisateurs d'identifier rapidement et précisément les défauts sur la surface de la plaquette jusqu'à une résolution de 3 nanomètres. KLA M-Gauge 300 propose également un module statistique, qui rassemble les données en un seul rapport pour une analyse facile. Ce module fournit également des inspections passe/échec et peut être utilisé pour générer des certifications statistiques des caractéristiques de la plaquette. TENCOR M-Gauge 300 est un outil polyvalent et fiable pour la métrologie des plaquettes, fournissant des résultats précis et précis pour une grande variété d'applications de test des plaquettes. Il offre des options flexibles et personnalisables conçues pour répondre aux besoins de n'importe quel environnement de production, et son interface intuitive et ses options d'étalonnage automatisé rendent son fonctionnement et son utilisation simples et simples. En s'appuyant sur cet outil de test et de métrologie des plaquettes de pointe, les utilisateurs peuvent être assurés que leurs résultats de production répondront aux normes de qualité les plus élevées.
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