Occasion KLA / TENCOR P15 #9407612 à vendre en France

KLA/TENCOR P15 Wafer Testing and Metrology Equipment est un système sophistiqué d'assurance qualité des semi-conducteurs conçu pour tester et mesurer avec précision les caractéristiques et les performances des wafers semi-conducteurs. Il est capable de contrôler le silicium lorsqu'il est encore sous forme de substrat, ainsi qu'après avoir été dédicacé en circuits intégrés individuels. L'unité dispose d'un microscope d'inspection qui utilise la technologie de reconnaissance d'image et des algorithmes avancés pour analyser les plaquettes. L'utilisateur reçoit un rapport détaillé des défauts et de leurs caractéristiques qui ont été mis en évidence à travers les images. La machine de métrologie intégrée est capable d'effectuer des mesures sur des matrices individuelles, avec une précision de déclaration de données de 1 nanomètre. KLA P-15 utilise un faisceau d'électrons à balayage cohérent et répétable avec une résolution inférieure à 2 microns. Cela permet un amincissement de haute précision, ainsi qu'une analyse efficace et précise des défauts tels que les contaminants de particules, ainsi que des taches, de la poussière et de la conductivité. L'outil offre plusieurs caractéristiques uniques qui le rendent très précis et efficace par rapport à ses homologues. Sa technologie de traversée unique permet une vue simultanée du haut et du bas de la plaquette, la rendant jusqu'à 30 fois plus rapide que les microscopes à balayage à faisceau unique traditionnels. TENCOR P 15 possède également un modèle avancé d'imagerie par électrons rétrodiffuseurs (ESB), ce qui augmente considérablement la précision de toutes les mesures de défauts. L'actif de classement automatique des défauts de TENCOR P15 classe tous les défauts détectés en quatre niveaux - faible, moyen, élevé et critique - selon la gravité. Cela permet à l'utilisateur de déclencher automatiquement des actions prédéfinies telles qu'un avertissement, un arrêt ou une inspection continue, ou des fonctions de métrologie avancées. P-15 est livré de série avec une suite complète de logiciels pour le test de wafer complet et la métrologie. Diverses mesures peuvent être analysées, y compris l'épaisseur des plaquettes, la profondeur de la structure et la profondeur des fissures, ainsi que la détermination du profil, les paramètres de laminage et l'analyse complexe des motifs. En conclusion, TENCOR P-15 Wafer Testing and Metrology Model est un outil puissant qui peut être utilisé pour tester et mesurer efficacement et avec précision les caractéristiques et les performances des wafers semi-conducteurs. Grâce à sa technologie d'imagerie de pointe, à son équipement de métrologie intégré et à son logiciel complet, KLA P15 est capable d'obtenir des résultats fiables avec une précision inégalée.