Occasion KLA / TENCOR 5107 #154364 à vendre en France

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ID: 154364
CD Overlay System.
KLA/TENCOR 5107 Wafer Testing and Metrology Equipment est une solution complète pour l'inspection et la métrologie dans l'industrie des semi-conducteurs. Le système est optimisé pour fournir des tests de plaquettes rapides, précis et fiables et la métrologie pour les lignes de production de semi-conducteurs. KLA 5107 offre un large éventail de capacités et de fonctionnalités, telles que le test automatisé de plaquettes, l'inspection in situ, le test de performance de prober et le balayage de profil. Il est également livré avec une interface facile à utiliser, permettant une lecture et une analyse rapides et précises des données. Pour les essais automatisés de plaquettes, TENCOR 5107 dispose d'une vaste gamme de modules qui mesurent une variété de paramètres, y compris les propriétés optiques, électriques et physiques. L'unité est enfermée dans une enceinte d'amortissement des vibrations, offrant un débit maximal et une précision des données. Pour l'inspection in situ, 5107 offre plusieurs capacités automatisées. Il peut détecter divers types de contamination des particules et d'autres caractéristiques à la surface d'une plaquette en temps réel, permettant une action corrective rapide et précise. En outre, la machine peut détecter des écarts entre les propriétés électriques et physiques des plaquettes, ce qui permet d'améliorer le rendement et la gestion des défauts. D'autres caractéristiques de KLA/TENCOR 5107 incluent les tests de performance prober et le balayage de profil. Les tests de performance Prober permettent d'évaluer des paramètres de performance tels que la précision du placement du motif, la précision du recouvrement, la résolution, la latence, l'hygiène de la colle et le taux de fuite. Le balayage de profil est un processus automatisé de lecture de la topographie d'une plaquette et de production d'une carte bidimensionnelle ou tridimensionnelle. En fournissant une carte détaillée de la surface de la plaquette, ce processus permet d'assurer l'uniformité des processus de dépôt ou de retrait. KLA 5107 apporte des tests et une métrologie de plaquettes fiables, précis et rentables à la fabrication de semi-conducteurs. Grâce à ses capacités automatisées de contrôle des plaquettes, d'inspection in situ, de contrôle des performances et de numérisation des profils, cet outil peut gagner du temps, améliorer le rendement et réduire les coûts de production.
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