Occasion KLA / TENCOR FT-600 #178694 à vendre en France

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ID: 178694
Style Vintage: 1991
Film Thickness Measurement System Power: 115 Volts, 50/60 Hz, 1500 Watts Microscope includes five reflected-light Olympus objectives: - MS Plan 2.5X/0.07, 5X/0.13, 10X/0.30 and 20X/0.46 - ULWD MS Plan 50X/0.55 Includes cassette-to-cassette (C2C) wafer handler with 200mm-wafer trays, PC controller 1991 vintage.
KLA/TENCOR FT-600 est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour inspecter les plaquettes semi-conductrices pendant le processus de fabrication. Ce système combine des mesures à grande vitesse, une gestion avancée des défauts et un contrôle robuste des processus dans une même plate-forme, permettant l'inspection des défauts au niveau de la filière et de la plaquette. KLA FT-600 propose une série de mesures, telles que la métrologie optique non destructive, les essais paramétriques électriques et l'imagerie visuelle. L'unité offre également diverses mesures au niveau de la matrice et de la plaquette, y compris une précision de mesure topographique sans contact d'un nanomètre ou mieux, des capacités de mesure basées sur des algorithmes de taille et une imagerie 3D détaillée d'un maximum de huit couches. Avec cette machine avancée, les utilisateurs peuvent mesurer rapidement et avec précision des paramètres tels que l'épaisseur, le profil, l'uniformité, la hauteur des marches, le pas et la forme des limites. L'outil dispose d'une interface conviviale, permettant aux opérateurs d'apprendre rapidement l'atout et d'optimiser leur flux de travail. TENCOR FT-600 offre également des capacités avancées de gestion des défauts, telles que jusqu'à 100 défauts actifs par plaquette, des notifications de l'opérateur, une précision de position de moins d'un micron et un contrôle de marqueur laser intégré. FT-600 offre également un contrôle et une traçabilité robustes des processus, avec un affichage en temps réel des données de suivi des processus et de rétroaction sur chaque plaquette. KLA/TENCOR FT-600 offre une variété de fonctionnalités, telles qu'un langage de programmation d'automatisation configurable, une matrice de commutation avancée pour les tests et la vérification rapides, et une bibliothèque de données stockées pour référence future. De plus, le modèle est équipé de quatre matrices discrètes par inspection de plaquettes, permettant aux utilisateurs de confirmer les caractéristiques de la filière sur l'ensemble de la plaquette avec une seule sonde. KLA FT-600 offre également un contrôle complet de l'environnement environnant, permettant un contrôle précis des processus et la manipulation des plaquettes très sensibles. L'équipement TENCOR FT-600 est un système de test et de métrologie avancé, très précis et efficace pour la caractérisation et la surveillance précises du traitement des semi-conducteurs. Cette unité offre une grande variété de capacités, telles que la métrologie optique non destructive, les essais paramétriques électriques, l'imagerie visuelle, la gestion des défauts et le contrôle des processus. Grâce à ses caractéristiques robustes, les utilisateurs peuvent inspecter rapidement et avec précision les plaquettes et optimiser leurs flux de processus.
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