Occasion KLA / TENCOR FT-750 #148761 à vendre en France

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KLA / TENCOR FT-750
Vendu
ID: 148761
Taille de la plaquette: 6"
Film thickness measurement system, 6" Missing PC monitor Powered down in a clean room.
KLA/TENCOR FT-750 est un puissant équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la caractérisation et l'essai précis des dispositifs semi-conducteurs. Le système est équipé de trois modules distincts : KLA FT-750 Operating Unit, TENCOR FT 750 Metrology Machine et FT 750 Analysis Module. FT-750 L'outil d'exploitation est responsable de la configuration générale de l'opération de test des plaquettes. Il comprend une série d'outils logiciels qui simplifient le processus de programmation et permettent aux utilisateurs de configurer rapidement et facilement les exigences exactes de l'opération de test de la plaquette qu'ils souhaitent effectuer, tels que la spécification du type d'analyse à effectuer, les paramètres à mesurer, la disposition physique de l'environnement de test, et d'autres détails pertinents. L'actif stocke facilement tous les paramètres et paramètres associés à l'opération de test choisie et permet une personnalisation et une modification faciles de la configuration de test. TENCOR FT-750 Metrology Model est le principal composant d'essai de l'équipement et est responsable des mesures physiques et électriques du matériau de la plaquette. Ses capacités de mesure comprennent l'essai de caractéristiques critiques telles que l'épaisseur de l'oxyde de grille, le courant de fuite de grille, la capacité de grille, la résistivité de grille, la tension de grille et la capacité de grille. Il a également la capacité de mesurer le rendement du dispositif, le taux de défaillance du dispositif, la fatigue du wafer et les taux de fuite du wafer. Ce système est très précis, permettant un niveau élevé de sensibilité et de précision de détection lors de la mesure des paramètres physiques et électriques du matériau de la plaquette. Enfin, le module d'analyse KLA/TENCOR FT 750 est une puissante capacité de traitement et d'analyse des données qui permet aux utilisateurs d'analyser rapidement les résultats de leurs essais. Il peut être utilisé pour analyser les tendances globales et les corrélations entre les diverses propriétés physiques et électriques mesurées du matériau de la plaquette, ainsi que pour détecter des valeurs aberrantes ou des mesures anormales. Cet outil d'analyse peut fournir des informations détaillées sur la qualité du matériau de la plaquette et est essentiel pour optimiser la production et la qualité du produit. Dans l'ensemble, l'unité d'essai et de métrologie KLA FT 750 est une solution efficace et complète pour la caractérisation et l'essai précis des dispositifs semi-conducteurs. La machine est capable de mesurer et d'analyser divers paramètres physiques et électriques du matériau de la plaquette avec un haut niveau de précision et de sensibilité, et avec les puissantes capacités d'analyse de données du module d'analyse KLA/TENCOR FT-750, les utilisateurs sont en mesure d'examiner rapidement les résultats de leurs opérations d'essai et d'identifier des lectures ou tendances anormales. Cet outil polyvalent est un outil précieux pour toute opération de test des semi-conducteurs.
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