Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX NC 110 Omnimap #69367 à vendre en France

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KLA / TENCOR / PROMETRIX NC 110 Omnimap
Vendu
ID: 69367
Taille de la plaquette: 4"-8"
Film thickness measurement system, 4"-8".
KLA/TENCOR/PROMETRIX NC 110 Omnimap est un outil sophistiqué conçu pour le test et la métrologie des plaquettes semi-conductrices. Cet équipement offre un large éventail de caractéristiques, ce qui en fait le choix idéal pour les professionnels de l'industrie qui cherchent à effectuer des essais avancés de plaquettes et de métrologie. Le système Omnimap de KLA NC 110 est construit sur une plate-forme d'imagerie KLA qui comprend la technologie d'imagerie TomoCentreMC max_chroma alimentée par une unité informatique de pointe entièrement intégrée. Utilisant ses capacités d'imagerie haute résolution, TENCOR NC 110 Omnimap est conçu pour détecter et mesurer la contamination de surface et les défauts de particules sur une large gamme de plaquettes. La machine possède également des caractéristiques optiques avancées telles que l'ellipsométrie à quatre longueurs d'onde, la topographie et la spectroscopie. En outre, l'outil est capable de mesurer l'épaisseur de films extrêmement minces sur les plaquettes, ce qui en fait un outil puissant et très précis pour la métrologie des plaquettes. NC 110 Omnimap actif a été conçu avec une variété de fonctionnalités conviviales et de logiciels intuitifs pour faciliter l'utilisation et augmenter l'efficacité. Le modèle est capable de se lier à des systèmes externes, permettant aux utilisateurs de suivre, stocker et comparer les données de mesure de plusieurs outils. En outre, le logiciel intégré offre un accès rapide et facile aux rapports de données et aux outils d'analyse. Cela en fait la solution idéale pour la fabrication de plaquettes et le contrôle de la qualité. PROMETRIX NC 110 L'équipement Omnimap est également très fiable et prend en charge le diagnostic à distance et le dépannage. Il est également capable de détecter de petits défauts et d'effectuer des tests non destructifs, ce qui le rend adapté à un large éventail d'applications. Avec ses fonctions avancées et ses puissantes capacités de détection, KLA/TENCOR/PROMETRIX NC 110 Omnimap est le choix idéal pour les industries nécessitant des tests de wafer de haute précision et la métrologie.
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