Occasion MITUTOYO SV-C500 #162851 à vendre en France

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ID: 162851
Profilometer.
L'équipement d'essai et de métrologie MITUTOYO SV-C500 est une plate-forme complète conçue pour permettre le contrôle granulaire des dimensions critiques et de l'uniformité des appareils complexes. La plate-forme fournit l'optimisation dans le processus de paramètres critiques pour la production réussie de nœuds de technologie avancés, tel que 3D-NAND, la DRACHME et les appareils FINFET. Le système offre une variété de fonctionnalités qui permettent un haut débit et un contrôle de processus flexible pour répondre aux exigences de la production d'appareils modernes. SV-C500 tire parti d'un étage d'entraînement linéaire à grande vitesse couplé à un étage de plaquette 5 axes à haute performance. Ce mécanisme avancé permet un contrôle précis du mouvement des plaquettes, avec des précisions de 4,5 µm pour les directions X/Y et 4,4 µm pour la direction Z. L'appareil à plate-forme ouverte permet également un flux de travail optimisé, permettant d'utiliser simultanément plusieurs méthodes de surveillance et de mesure au sein d'une même unité. Cela comprend le réglage des processus, la métrologie, les opérations d'analyse et le contrôle de la qualité. En plus de son mécanisme de manutention avancé, MITUTOYO SV-C500 est également équipé de divers outils de métrologie puissants. Ces outils utilisent l'ensemble pneumatique de la machine pour mesurer les paramètres statiques et dynamiques des dispositifs semi-conducteurs avancés. L'outil offre un large éventail de sondes automatiques et manuelles, y compris les capacités de microscope électronique à balayage (SEM) et de microscopie à force atomique (AFM). Ces outils offrent une imagerie et des mesures haute résolution, avec des résolutions allant jusqu'à 0.5nm pour SEM et 1nm pour AFM. SV-C500 est également capable de diverses autres mesures et analyses. Ses algorithmes sont capables d'effectuer l'identification d'image, l'analyse de taille de puce et des mesures 3D. La grande bibliothèque de techniques de mesure de cet actif comprend également plusieurs techniques non destructives, telles que l'ellipsométrie et la photoluminescence, pour fournir une analyse de haute précision. Dans l'ensemble, MITUTOYO SV-C500 wafer test et métrologie modèle est une solution puissante et polyvalente pour la fabrication de semi-conducteurs de pointe. Son ensemble complet de capacités et d'outils permet une surveillance et une mesure complètes des dimensions critiques et des paramètres d'uniformité pour tous les appareils complexes. Avec son étage d'entraînement linéaire à grande vitesse, son ensemble pneumatique et sa large gamme d'outils de métrologie, l'équipement fournit des résultats de haute précision qui sont essentiels à la production réussie de noeuds de technologie moderne.
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