Occasion SEMITEST Epimet #196461 à vendre en France

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SEMITEST Epimet
Vendu
ID: 196461
Style Vintage: 1998
Epitaxial Metrology System, 1998 vintage.
SEMITEST Epimet est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir une métrologie très précise, le tri des matrices et des tests non destructifs de composants microélectroniques. Le système dispose d'une suite de test entièrement automatisée de plaquettes de 4 pouces avec une tension d'accélération 20KV, une opération sans surveillance et une configuration de module conçue pour les besoins spécifiques des utilisateurs. La capacité d'Epimet est conçue pour examiner les plaquettes pour la production et le contrôle de la qualité. L'unité utilise une machine de métrologie automatisée dotée d'un outil optique avancé pour détecter des défauts tels que des fosses, des rayures ou des contaminants dans la plaquette. Son algorithme de tri avancé est conçu pour développer de manière fiable un motif sur les défauts de la plaquette tout en détectant les raccourcis électriques. SEMITEST Epimet dispose d'une caméra couleur optique haute résolution pour la couture de la matrice afin d'assurer une inspection précise. Avec les inspections amplifiées 8X, l'actif peut localiser avec précision les défauts à la surface de la plaquette à 1-5 microns. Cette capacité permet aux utilisateurs de détecter des caractéristiques de sous-microns dans leurs dispositifs semi-conducteurs. En outre, Epimet propose des solutions d'essai non destructives, y compris un test électrique optique à haut débit (OET) qui permet des essais électriques simultanés et une inspection lumineuse de plusieurs emplacements d'essai sur la plaquette. Il propose également un test de sonde de courant coaxial pour la collecte de données à grande vitesse. Le modèle est conçu pour la productivité, la fiabilité et la rentabilité à long terme. Sa conception modulaire permet une reconfiguration facile et améliore la capacité de l'équipement d'essai à s'adapter aux exigences changeantes. SEMITEST Epimet est également compatible avec d'autres systèmes de test, de sorte que les utilisateurs peuvent maximiser la productivité et la rentabilité de leurs processus de test. Le système est conçu pour fournir aux utilisateurs des performances de haute précision, de grande vitesse et fiables dans l'inspection et l'essai des composants microélectroniques. Des applications de test non destructives à la caractérisation optique et à la métrologie, Epimet propose une solution complète de test de plaquettes.
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