Occasion SSM 470i #160237 à vendre en France

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ID: 160237
Taille de la plaquette: 8"
CV plotter, 8" Hot Chuck Windows based Software (2) Neslab CFT-33 Chiller / Recirc units.
L'équipement d'essai et de métrologie des plaquettes SSM 470i de Cascade Microtech est un poste de conception et de vérification de nouvelle génération qui fournit des capacités de test et d'analyse de défaillance des semi-conducteurs de pointe dans l'industrie. Ce système est optimisé pour les exigences d'essai, de mesure et d'analyse les plus difficiles tout en offrant des solutions rentables et performantes. Conçu pour fournir une précision et une répétabilité cohérentes, il offre jusqu'à 4200 Kelvin capacité de température de test avec un temps de séjour précis de 200 ms. 470i est conçu pour une variété de technologies incluant, sans s'y limiter, SOI, SiGe, BV/FET et semi-conducteurs composés ainsi que GaAs et d'autres technologies émergentes. Il supporte l'intégration de conception de la puce et du paquet au niveau de l'unité, permettant des tests efficaces et l'optimisation du rendement grâce à des capacités de caractérisation précises. SSM 470i est hautement personnalisable, avec une suite d'outils pour répondre aux besoins des clients. L'architecture flexible de la machine offre les méthodes avancées de dépannage et le contrôle utilisateur du développement, de la maintenance et de l'exécution des programmes de test. 470i offre une large gamme de capacités de détection et de métrologie des plaquettes. L'outil comprend également un ensemble intégré de paquets matériels et logiciels, tels que le contrôleur de test QA-370i, le contrôleur de test QA-370ii et le programmeur de test MT-370. Les capacités uniques d'acquisition et d'analyse de données de cet actif permettent d'améliorer la précision et la répétabilité des données dans un large éventail d'applications. En outre, SSM 470i est équipé d'une interface graphique puissante, permettant un fonctionnement facile et la facilité d'utilisation. Il est intégré à un large éventail d'outils logiciels de haute performance et offre des programmes de tests automatiques, la collecte de données, l'analyse de données et des capacités d'analyse statistique. Les outils logiciels de 470i facilitent la création de tout type de programme de test. Le modèle dispose d'un balayage à haut débit de toutes les cartes et chambres de sonde, réduisant les erreurs d'opérateur, ainsi que l'alignement automatique pour la programmation de test sans tracas. L'équipement offre également une fiabilité et une répétabilité exceptionnelles, permettant des résultats d'essai fiables sur une base cohérente. Grâce à sa conception efficace, ses fonctionnalités avancées et ses options de configuration, SSM 470i wafer test et le système de métrologie est la solution parfaite pour tout test de semi-conducteur et analyse de défaillance exigences.
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