Occasion SSM 495 #9010544 à vendre en France

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ID: 9010544
Mercury probe CV system for solid state measuring Vacuum check gauge Probe lift air gauge HG contact air gauge HG contact vacuum gauge SSM capacitance measurement unit 17" flat panel monitor 2005 vintage.
L'équipement d'essai et de métrologie SSM 495 est un système d'essai et de métrologie de haute précision avec des caractéristiques de performance haut de gamme. Il est conçu pour être utilisé dans des processus de fabrication de dispositifs semi-conducteurs physiquement exigeants et offre une précision supérieure pour inspecter et tester les circuits intégrés. Il est capable de mesurer avec précision des exigences rigoureuses telles que la haute résolution, la puissance, la taille de la matrice, et plus encore. La machine est très précise dans les opérations normales et peut manipuler des puces allant de niveaux simples à des variétés complexes de dispositifs à plusieurs niveaux. Il utilise une série de systèmes automatisés de contrôle et de capteurs électroniques pour suivre et contrôler le processus d'essai. L'unité dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive qui permet aux utilisateurs de créer leur propre programme de test standard en seulement quelques minutes ou moins. Il comprend des options graphiques pour ajuster la vitesse de l'horloge, le contrôle ponctuel, la tension d'alimentation, et d'autres paramètres. Le logiciel dispose également de fonctionnalités plus avancées telles que l'empilement de matrices, la fonction d'étude des réticules, l'optimisation des performances et la cartographie. Ces fonctionnalités sont conçues pour fournir les meilleures performances possibles pour l'application de l'utilisateur. Le matériel de la machine est conçu pour être robuste et comprend des caractéristiques telles qu'un outil de traitement de wafer à grande échelle, un outil de manutention de wafer externe, un modèle de bordure et d'alignement de wafer, un nettoyeur et une gravure de wafer haute vitesse et haute résolution, des équipements de collage et divers capteurs et contrôleurs de test automatisés. Le système intègre également un certain nombre de fonctionnalités innovantes telles que le traitement en temps réel des plaquettes, l'unité de suivi des plaquettes, le codage des plaquettes, la reconnaissance des motifs et l'étalonnage. Tous ces éléments permettent à la machine de fonctionner dans un large éventail d'applications allant de la recherche et développement aux opérations de contrôle de qualité et de ligne de production. En outre, l'outil est capable d'intégrer avec des logiciels d'automatisation de processus et d'actifs des applications pour une plus grande capacité d'automatisation. L'architecture logicielle du modèle est conçue pour être extensible. Cela permet l'intégration avec des applications personnalisées et des applications logicielles tierces pour plus d'automatisation et de flexibilité. L'équipement comprend également des fonctions avancées de gestion et d'étalonnage des données pour l'acquisition de données en temps réel, le traitement des données et des résultats, et la personnalisation des programmes de test. 495 wafer testing and metrology system est une unité puissante et complète conçue pour fournir des performances haut de gamme aux processus de production de semi-conducteurs exigeants. Son architecture robuste et ses caractéristiques innovantes en font l'un des systèmes les plus performants pour l'essai de plaquettes et la métrologie.
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