Occasion THERMA-WAVE OPTIPROBE 5205 #62641 à vendre en France

THERMA-WAVE OPTIPROBE 5205 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu comme une plate-forme complète pour effectuer divers types d'essais et de métrologie de plaquettes. Il est capable de fournir des données très précises sur les formats de filière et de backend actifs et non actifs. La plate-forme utilise des technologies éprouvées pour obtenir des profils précis de balayage et de performance électrique, ainsi que des mesures optiques à large champ et autres mesures optiques tridimensionnelles de plaquettes individuelles ou entières. La plate-forme est basée sur un étage tournant de plaquettes et comprend plusieurs mesures pour éliminer les erreurs hors axe qui optimisent la répétabilité die-to-die et la linéarité du système. Cette conception rend l'unité capable de mesurer avec précision la forme, la surface et les propriétés électriques des plaquettes individuelles ou entières. OPTIPROBE 5205 est également équipé d'une machine d'imagerie d'ondes thermiques exclusive fournissant une imagerie infrarouge bidimensionnelle pour localiser la défaillance de la filière et l'identification des points chauds. L'acquisition de formes d'ondes multi-canaux permet en outre de capturer des formes d'ondes électriques sur plaquettes à partir du dispositif et des dispositifs connectés à la grille et au drain. Pour la métrologie, l'outil dispose d'une étape de métrologie intégrée qui le rend apte à effectuer à la fois la métrologie optique et autre. L'étape de métrologie est intégrée à un atout d'imagerie vidéo haute résolution fournissant des corrections de grossissement et de focalisation ainsi que l'imagerie topographique. Il peut également être utilisé pour l'imagerie optique au niveau du nanomètre. Le modèle dispose d'un contrôleur tactile intuitif qui simplifie le fonctionnement et fonctionne de façon transparente avec des opérations manuelles et automatisées. De plus, THERMA-WAVE OPTIPROBE 5205 est équipé d'un équipement de vision de pointe offrant une technologie de reconnaissance de motifs et des capacités Autofocus. Il peut être configuré pour effectuer des mesures automatisées de circuit et d'identification et de détection de position assistée par logiciel. Ce système de vision avancée le rend adapté à l'analyse automatisée des défaillances telles que l'analyse transversale et l'alignement de superposition 3D. En conclusion, OPTIPROBE 5205 dispose de fonctionnalités avancées qui en font une unité de test et de métrologie idéale pour les applications incluant l'emballage IC, MEMS, SiP et l'assemblage. La machine fournit également des données précises dans des formats de plaquettes actifs et non actifs, ce qui la rend adaptée à un large éventail de tâches de test de plaquettes et de métrologie.