Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK IIA #197824 à vendre en France

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ID: 197824
Style Vintage: 1984
Wafer Surface Profiler.
VEECO/SLOAN DEKTAK IIA wafer testing and metrology equipment est une plate-forme de métrologie automatisée et polyvalente conçue pour répondre à une variété de besoins de topographie et de caractérisation de surface nano pour une gamme d'applications. Le système offre des diagnostics à faible profil et sans contact pour des applications dans la fabrication de semi-conducteurs, la recherche et le développement, et la science analytique de surface. VEECO DEKTAK IIA utilise une unité de mesure de stylet sans contact pilotée par la capacité et adaptée aux mesures corrélatives de rugosité de surface et de hauteur de pas ainsi que de résistivité/conductivité de surface. SLOAN DEKTAK IIA met en œuvre un balayage résistif avec une faible résolution verticale de 0,1 micron (10 nm) afin de capturer avec précision les caractéristiques topographiques les plus petites de l'échantillon. La vitesse de balayage et la force de contact sont réglables, ce qui permet à l'utilisateur de régler la machine pour mieux répondre aux besoins de l'échantillon observé. DEKTAK IIA offre une gamme dynamique allant jusqu'à 1000X, permettant des mesures précises et répétables des échantillons à haut rapport d'aspect. Le logiciel intuitif permet à l'utilisateur de personnaliser l'affichage pour afficher des cartes de contour, des profils transversaux et d'autres représentations graphiques. Cela permet d'identifier rapidement les caractéristiques morphologiques de l'échantillon, ce qui permet à l'utilisateur de bien comprendre le spécimen. En plus de mesurer simplement les caractéristiques topographiques, VEECO/SLOAN DEKTAK IIA peut également être utilisé pour diverses applications de test de plaquettes et de métrologie. Cela comprend la photolithographie, la fabrication de plaques, la mesure diélectrique intermétallique et la mesure de la concentration chimique sans contact. VEECO DEKTAK IIA est également équipé d'une source de lumière UV en option qui permet l'imagerie directe de l'épaisseur de la couche de photorésistance et de photorésist. Afin de garantir les résultats les plus précis, SLOAN DEKTAK IIA propose également une large gamme de porte-échantillons pour une variété de tailles d'échantillons. Cela garantit que l'échantillon est bien maintenu en place sans risque de déplacement pendant le processus de mesure. DEKTAK IIA est conçu pour un fonctionnement automatisé, fournissant une collecte de données rapide et fiable pour une variété de besoins de métrologie.
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