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JEOL JSM 6340F #9276338

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JSM 6340F

Microscope.
26
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JEOL JSM 6340F #145143

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JSM 6340F

Scanning electron microscope, 4", parts system Specifications: In-lens secondary electron detector
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JEOL JSM 6340F #9364860

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JSM 6340F

Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
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JEOL JSM 6340F #9003281

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JSM 6340F

SEM Specifications:   a. Performance SEI Resolution : 1.2 nm guaranteed (Acc. V. = 15kV) 2.5 nm gu
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