Occasion AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4294A #9084591 à vendre en France

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4294A est un analyseur de précision RF Impedance/Material Analyzer et Network Analyzer. Il est utilisé dans diverses applications, y compris la caractérisation des composants, des dispositifs et des matériaux sur les marchés commerciaux, industriels et militaires partout dans le monde. Il est particulièrement bien adapté aux essais d'amplificateurs de puissance, de filtres, d'amplificateurs, de mélangeurs, d'antennes et autres composants RF/micro-ondes, à la caractérisation des matériaux et à la mesure des propriétés électriques. HP 4294A dispose d'une large gamme de fréquences de 10 Hz à 500 MHz et offre à la fois un temps de balayage allant jusqu'à 8 ms (zoom) et une gamme de fréquences balayées allant jusqu'à 4 GHz. Avec quelques mesures interconnectées simples, AGILENT 4294A peut mesurer avec précision l'impédance, les paramètres S et les paramètres d'admission de n'importe quel composant, quelle que soit sa forme ou sa conception. De plus, la fonction de détecteur de jonction de diodes de l'unité permet d'automatiser les mesures complexes des paramètres du réseau. HEWLETT-PACKARD 4294A dispose également d'une alimentation intégrée qui offre jusqu'à 15V en 1 ohm, et 2.2A courant de crête. Ceci permet à l'utilisateur d'induire un courant stabilisé à travers un élément de test afin de mesurer l'impédance ou l'admittance. La tête de test, qui est équipée de divers composants, fournit des pointes de test réglables par l'utilisateur et un guidage étape par étape dans la mise en place de l'instrument de mesure. D'autres fonctionnalités comprennent une interface utilisateur intuitive, un support multicanal, un accès à distance, des mesures sur une gamme de températures et une garantie de trois ans. Avec sa conception simple et ses fonctionnalités faciles à utiliser, KEYSIGHT 4294A est une solution idéale pour ceux qui ont besoin de solutions de mesure de précision pour les composants RF/micro-ondes et la caractérisation des matériaux.