Inspection des masques et des wafers d'occasion à vendre
L'inspection des masques et des plaquettes est un processus crucial dans la fabrication des semi-conducteurs qui garantit la qualité et la fiabilité des circuits intégrés (IC). Il s'agit d'examiner les masques, qui servent à définir les motifs sur les plaquettes semi-conductrices, et les plaquettes elles-mêmes, qui sont les substrats sur lesquels les IC sont construits. Le but de l'inspection du masque est de détecter les défauts, tels que les particules, les rayures ou la délamination, sur la surface du masque qui peuvent affecter le processus de transfert du motif. Ces défauts peuvent provoquer des pertes de rendement ou même une défaillance du dispositif au cours du processus de fabrication. Les systèmes d'inspection utilisent des techniques avancées telles que l'imagerie optique ou par faisceau d'électrons pour scanner les masques et identifier les défauts avec une grande précision et la vitesse. Les données obtenues lors de l'inspection du masque sont ensuite utilisées pour réparer ou remplacer les masques afin d'assurer l'intégrité des motifs. L'inspection des plaquettes, par contre, est effectuée pour identifier les défauts qui se produisent au cours des différentes étapes de la fabrication des IC, y compris le dépôt, la lithographie, la gravure et l'implantation. Les défauts sur la surface de la plaquette ou à l'intérieur des couches peuvent affecter la fonctionnalité et les performances des IC. Les systèmes d'inspection utilisent des technologies d'imagerie sophistiquées pour examiner les plaquettes pour détecter des défauts tels que la contamination, les écarts de motifs ou les anomalies électriques. Ceci permet de détecter et de classer les défauts afin de prendre des mesures appropriées, telles que le retravaillement ou l'élimination des plaquettes défectueuses. Dans l'ensemble, l'inspection des masques et des plaquettes joue un rôle essentiel pour assurer la qualité et la fiabilité des dispositifs semi-conducteurs. L'avancement continu des technologies d'inspection est essentiel pour suivre le rythme de la réduction des dimensions et de la complexité croissante des IC, permettant aux fabricants de répondre aux exigences de l'industrie électronique en constante évolution.
Filtres
-
(1)
-
(12)
-
(1)
-
(3)
-
(2)
-
(1)
-
(3)
-
(5)
-
(2)
-
(115)
-
(22)
-
(1)
-
(3)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(37)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(5)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(4)
-
(2)
-
(16)
-
(1)
-
(1)
-
(5)
-
(4)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(3)
-
(1)
-
(5)
-
(2)
-
(5)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(2)
-
(6)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(16)
-
(9)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(5)
-
(30)
-
(2)
-
(36)
-
(7)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(3)
-
(2)
-
(3)
-
(1)
-
(1)
-
(9)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(7)
-
(4)
-
(17)
-
(1)
-
(3)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(3)
-
(7)
-
(5)
-
(2)
-
(2)
-
(1)
-
(75)
-
(380)
-
(17)
-
(1)
-
(2)
-
(5)
-
(1)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(4)
-
(4)
-
(19)
-
(1)
-
(27)
-
(44)
-
(22)
-
(2)
-
(1)
-
(6)
-
(3)
-
(1)
-
(3)
-
(2)
-
(7)
-
(2)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(194)
-
(31)
-
(19)
-
(4)
-
(3)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(3)
-
(1)
-
(3)
-
(104)
-
(3)
-
(4)
-
(1)
-
(10)
-
(4)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(9)
-
(1)
-
(3)
-
(4)
-
(1)
-
(7)
-
(1)
-
(2)
-
(24)
-
(138)
-
(3)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(4)
-
(1)
-
(9)
-
(33)
-
(4)
-
(1)
-
(4)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(4)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(3)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(7)
-
(2)
-
(9)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(3)
-
(3)
-
(1)
-
(37)
-
(9)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(3)
-
(2)
-
(2)
-
(4)
-
(1)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(8)
-
(1)
-
(2)
-
(2)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(2)
-
(4)
-
(4)
-
(1)
-
(1)
-
(3)
-
(2)
-
(1)
-
(56)
-
(1)
-
(1)
-
(226)
-
(3)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(2)
-
(3)
-
(1)
-
(1)
-
(6)
-
(3)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(10)
-
(1)
-
(4)
-
(2)
-
(1)
-
(10)
-
(71)
-
(3)
-
(12)
-
(147)
-
(20)
-
(1)
-
(1)
-
(1)
-
(2)
-
(4)
-
(12)
-
(7)
-
(6)
-
(24)
-
(19)
-
(28)
-
(42)
-
(41)
-
(27)
-
(48)
-
(50)
-
(64)
-
(54)
-
(36)
-
(34)
-
(15)
-
(31)
-
(34)
-
(18)
-
(17)
-
(24)
-
(13)
-
(18)
-
(11)
-
(6)
-
(2)
-
(4)
-
(2)
-
(4)
-
(4)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(824)
