Occasion AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 70951B #293619045 à vendre en France

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 70951B est une solution automatisée et programmable de test et d'analyse à courant continu pour diverses applications, y compris le développement, la validation, l'optimisation du système et le test de production des IC de gestion de la puissance, des transistors, des HDF et des MOSFET de super-jonction. HP 70951B offre une large gamme de capacités de mesure incluant tension et courant continu, dissipation de puissance, impédance de sortie, charge et capacité, retard, largeur d'impulsion, temps de montée/descente et essais de commutation de faible puissance. Il est conçu pour répondre aux besoins de produccibilité, de compatibilité et de rendement de pointe de l'industrie. AGILENT 70951B dispose d'une multitude d'options de contrôle, y compris la configuration de contrôle automatique, le séquençage flexible, les recettes multiples, le confinement des défauts, les tests de résistance accélérés, les entrées/sorties numériques, l'entretien préventif et l'accès à distance par LAN ou GPIB. Cette polyvalence permet au testeur de maintenir une précision et une répétabilité élevées tout au long du processus de test. Pour mesurer avec précision les caractéristiques de l'IC de gestion de la puissance, KEYSIGHT 70951B est équipé d'une large gamme d'instruments de mesure. Il s'agit notamment d'un compteur de courant continu à haute sensibilité, d'un compteur de courant alternatif à haute sensibilité avec compensation de température à couplage direct, d'un amplificateur de précision et de compteurs de puissance hyperfréquence. Le système polyvalent HP Wafer Probe fournit un ensemble complet de solutions mécaniques et électriques de matériel, avec la capacité d'intégrer des montages et accessoires supplémentaires pour étendre davantage les capacités de test. 70951B dispose également d'une unité de mesure de la température (TMU) intégrée en option et d'une technologie de conversion numérique-analogique (DAC) intégrée. Avec le TMU optionnel, les utilisateurs peuvent mesurer la température du dispositif à l'essai (DUT) afin de comprendre l'impact des effets thermiques sur la performance du dispositif. Le convertisseur DAC intégré est conçu pour optimiser les performances du DUT via des impulsions de tension analogiques programmables. Le module de commutation intégré permet de tester de manière fiable des appareils à forte consommation d'énergie, simplifiant ainsi le débogage et optimisant le rendement des performances de test de pointe. Grâce à la bibliothèque logicielle de caractérisation électrique AGILENT DC, les utilisateurs sont en mesure de transférer, stocker et analyser les données mesurées, réduire le bruit et la variabilité, accélérer le débogage et les optimisations, et améliorer les temps de test et le temps de fonctionnement du système. HEWLETT-PACKARD 70951B fournit également une interface graphique conviviale et des outils de conception logicielle qui facilitent la configuration des tests, le fonctionnement et la gestion des données. La combinaison de toutes ces fonctionnalités avancées fournit une solution de test et de mesure vraiment dynamique, parfaitement adaptée aux tests de production, la validation et le débogage des IC de gestion de la puissance.