Occasion AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 85029B #9142849 à vendre en France

AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 85029B
ID: 9142849
General test set.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 85029B est un analyseur de réseau vectoriel d'ondes de DC-9GHz millimètres (VNA) de HP Technologies. Cet instrument offre une précision et une précision inégalées pour tester les paramètres S et l'impédance dans diverses applications. Ce VNA dispose d'une gamme de fréquences de 0,01 GHz à 9 GHz (1 à 18GHz avec un kit de connectivité optionnel WR-90 Waveguide), et peut afficher jusqu'à 4 paramètres de port pour chaque test. En outre, il peut également mesurer la perte et le gain d'insertion des dispositifs à deux ports, ainsi que l'isolement entre eux. HP 85029B comprend une gamme de capacités de mesure, telles que l'analyse des filtres, des réseaux de correspondance amplificateurs et des réseaux excitateurs/charges. En même temps, il fournit également une vue directe du niveau de fréquence et de signal sur la carte de Smith, permettant l'affichage simultané de paramètres S et de pertes de retour. De plus, ce VNA a également été conçu pour minimiser l'incertitude de mesure, et ses récepteurs de vecteurs de bruit basse phase aident à assurer la précision des mesures de paramètres S, même en présence de bruit haute fréquence. Cet instrument dispose d'une interface utilisateur intuitive et il est bien adapté pour les tests automatisés. AGILENT 85029B offre également un générateur d'impulsions externe en option, permettant de mesurer à la fois les paramètres S et les réponses impulsionnelles. De plus, cet instrument est capable de stocker des mesures, ce qui permet de le rappeler rapidement pour analyse. HEWLETT-PACKARD 85029B VNA est un instrument idéal pour les essais de développement et de production. Il est conçu pour fournir une solution complète pour les applications de base et les composants et réseaux plus avancés. Il offre des performances, une précision et une polyvalence supérieures, ce qui en fait un choix idéal pour la mesure de qualité dans le domaine spectral des paramètres S.
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