Occasion KEITHLEY 4200-SCS/F #293645288 à vendre en France

KEITHLEY 4200-SCS/F est un équipement de test électronique qui initie, exécute et automatise le test de plaquettes et de dispositifs semi-conducteurs tels que des diodes, des transistors, des condensateurs, des inductances et des résistances. Le système est conçu pour réduire le temps d'essai et améliorer le rendement en effectuant des essais à grande vitesse et en intégrant de façon rentable de multiples capacités technologiques dans une seule plate-forme. Le système comprend un ordinateur central, une mesure de précision (PMU) et un rack de sonde. L'ordinateur central est le centre de commande et de contrôle du système et permet à l'utilisateur de contrôler l'instrument via le logiciel fourni. Il comprend une gamme de fonctions telles que l'acquisition de données, l'analyse de données, la génération de motifs, le débogage matériel et la mesure des instruments. L'unité de mesure de précision (PMU) acquiert et traite l'entrée des sondes. Il offre un large éventail de capacités telles que : mesures en courant continu, mesures en courant alternatif, mesures d'impulsions, mesures numériques, mesures de linéarité dynamique et analyse de plancher sonore. Il dispose également d'un support intégré pour les interfaces Ethernet, GPIB et USB. Le Probe Rack stocke les cartes de sonde et les capteurs utilisés pour le test et la mesure. Il est livré avec une variété d'accessoires tels que : cartes de sonde, sondes, supports de sondes, porte-échantillons, manutentionneurs statiques de plaquettes, clips de plaquettes et pinces de plaquettes. KEITHLEY 4200 SCS/F dispose d'un flux de test automatisé puissant qui permet aux utilisateurs de configurer rapidement et facilement leurs tests. Le flux de test automatisé comprend un guide étape par étape avec des diagrammes et des fichiers d'aide qui fournissent des informations détaillées sur les éléments de test et ses propriétés. L'environnement de test personnalisable permet aux utilisateurs de régler leurs conditions de test rapidement, de sélectionner les paramètres de mesure souhaités et de spécifier la séquence de test souhaitée. Les résultats des tests peuvent être rapidement exportés vers d'autres systèmes compatibles tels que des bases de données, des feuilles de calcul et des fichiers texte. 4200 SCS/F est idéal pour les applications à haut débit nécessitant des mesures rapides et précises. Il a un large éventail d'applications, y compris la caractérisation des appareils, paramétriques, tests de fiabilité, et les qualifications de processus. En outre, il est conçu pour la robustesse et les performances, ce qui le rend adapté à tous les types de wafer semi-conducteur et de test de dispositif.