Occasion KEITHLEY 4200-SCS #293749947 à vendre en France

KEITHLEY 4200-SCS est un système avancé de caractérisation des semi-conducteurs conçu pour une analyse précise et complète des propriétés électriques des matériaux semi-conducteurs. KEITHLEY 4200 SCS offre une large gamme de capacités de test et de procédures de mesure automatisées, avec une interface utilisateur personnalisable. Sa puissante architecture combine deux instruments de précision source/mesure et un contrôleur basé sur PC, fournissant une plate-forme pour une caractérisation précise et cohérente des appareils. 4200-SCS comprend deux instruments SMU, chacun offrant un fonctionnement monocanal ou bicanal. Les instruments de SourceMeter fournissent le courant de haute bande passante et le voltage sourcing, l'opération simultanée de 4 quadrants et l'exactitude de mesure de jusqu'à 300 μV et de 0.7 résolution fA. 4200 SCS prend en charge une variété de paramètres et de méthodes d'essai, tels que ceux spécifiés dans les normes JEDEC et IEC, et dispose de trois systèmes TempBridge pour l'analyse thermique et la caractérisation des mesures transitoires thermiques. Le système prend également en charge un large éventail de gestionnaires automatisés de plaquettes et de porte-échantillons utiles pour les tests de plaquettes et de paquets. KEITHLEY 4200-SCS dispose de plusieurs outils logiciels pour améliorer les capacités de test de l'utilisateur. Ces outils comprennent une puissante interface utilisateur graphique pour la programmation et l'analyse des données, KEITHLEY Measurement Manager pour la création et l'exécution de procédures de test automatisées, et un plug-in LabView™ pour la création d'instruments et d'applications LabView. Pour réduire les efforts de programmation et accélérer les essais, KEITHLEY 4200 SCS comprend une bibliothèque de séquences d'essais de mesure de la source et de caractérisation thermique. 4200-SCS est un système polyvalent avec une conception de précision et des capacités pour permettre des mesures précises et répétables des paramètres électriques. L'architecture puissante, les capacités logicielles avancées et les mesures automatisées des plaquettes fournissent une plate-forme capable d'une large gamme de caractérisation des appareils.