Occasion KEITHLEY 4200-SCS #9404531 à vendre en France

KEITHLEY 4200-SCS est un système avancé de caractérisation des semi-conducteurs (SCS). Il s'agit d'une plate-forme de test automatisée intégrée conçue pour accélérer la mesure des propriétés avancées des dispositifs semi-conducteurs du début à la fin dans les plus brefs délais. Il offre une approche intégrée et conviviale de la caractérisation, de la vérification et de la qualification des appareils. KEITHLEY 4200 SCS intègre des outils de mesure et d'analyse avancés pour garantir des données exactes et reproductibles qui peuvent être obtenues rapidement avec un minimum d'effort. Il se compose d'une console de commande, d'un contrôleur maître/unité de mesure de source, d'un analyseur de spectre/voltmètre, d'un générateur d'impulsions et d'un ordinateur de bord. L'unité de mesure maître contrôleur/source est conçue pour mesurer la tension, le courant et la température avec une résolution supérieure à 1 mV et 1 mA. Il peut fournir 20 mA courant de conformité et jusqu'à 60V tension de conformité. Il permet également à l'utilisateur de contrôler, caractériser et analyser avec précision les caractéristiques électriques des dispositifs et circuits semi-conducteurs. Le générateur d'impulsions offre un débit d'impulsions personnalisé avec des durées d'impulsions de 0,1 μ s à 5 ms, et peut générer jusqu'à 5 MHz carré, triangle, et sinus formes d'ondes avec 0,01 % de distorsion. L'analyseur de spectre/voltmètre fournit des données de 1 Hz à 50 MHz avec une plage dynamique élevée et une large plage d'impédance d'entrée. Il est disponible avec un certain nombre d'accessoires en option, y compris une matrice de commutateurs, des détecteurs basse fréquence et un logiciel de caractérisation des semi-conducteurs. L'ordinateur de bord de 4200-SCS comprend l'acquisition rapide de données, le traitement des données et du signal numérique, ainsi que des logiciels de cartographie et de tracé et offre des capacités inégalées pour transformer les données collectées en résultats significatifs. Le système permet également à l'utilisateur de définir et d'exécuter des protocoles de test complexes, automatisant la collecte de données, l'analyse de données et le reporting des résultats. 4200 SCS est adapté à un large éventail d'applications, de la caractérisation de base des semi-conducteurs à la caractérisation et la caractérisation plus complexes des dispositifs submicroniques. Il a une performance supérieure à celle des systèmes précédents, avec une précision et une répétabilité accrues, des temps de mesure plus rapides et un traitement des données plus efficace. Ses fonctions, ses caractéristiques et ses performances en font un excellent choix pour les laboratoires et les concepteurs qui ont besoin d'une solution efficace et rentable pour la caractérisation avancée des semi-conducteurs.