Occasion SCIENTECH RVX 5000 XPS #9315829 à vendre en France

SCIENTECH RVX 5000 XPS est un équipement électronique avancé d'essai et de mesure pour l'analyse des propriétés physiques et chimiques des surfaces et des surfaces proches. Il s'agit d'une combinaison de plusieurs équipements d'essai avancés conçus pour fournir des données détaillées sur une gamme de matériaux. Le composant principal du système est l'instrument de spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS), qui peut mesurer la composition élémentaire des surfaces en détail. XPS nécessite une source de rayons X puissante, et RVX 5000 XPS est conçu pour utiliser des microscopes de haute puissance pour focaliser les faisceaux de rayons X sur l'échantillon et détecter les photoélectrons émis, ce qui donne un ensemble de données riche de composition élémentaire. Ceci permet à l'utilisateur de mesurer avec précision et précision la composition chimique de la surface de l'échantillon. En plus de XPS, SCIENTECH RVX 5000 XPS comprend des modules d'analyse de surface tels que la microscopie à force atomique (AFM) et la microscopie à sonde à balayage (SPM). AFM et SPM sont des techniques d'imagerie à haute résolution utilisées pour examiner la structure de surface des échantillons, comme l'imagerie topographique de surface et la mesure de propriétés telles que la rugosité de surface. Ils peuvent également être utilisés pour mesurer les courbes force-distance ou mesurer les propriétés électriques des échantillons conducteurs. RVX 5000 XPS comprend également la spectrométrie de masse ionique secondaire (TOFSIMS) pour l'analyse des anions et molécules de surface. TOFSIMS agit en bombardant un échantillon avec des particules de haute énergie (ions) qui sont ensuite détectées par un réseau de détecteurs. SCIENTECH RVX 5000 XPS est conçu pour analyser la masse des ions détectés, permettant ainsi l'analyse d'ions positifs et négatifs. Enfin, RVX 5000 XPS est équipé d'un module de spectroscopie Raman, fournissant des informations précieuses sur les propriétés vibrationnelles de surface. La spectroscopie Raman fonctionne en excitant un échantillon avec un laser et en analysant la lumière diffusée, qui peut ensuite être analysée spectralement pour révéler la caractéristique vibrationnelle de la surface. SCIENTECH RVX 5000 XPS est une machine de test et de mesure avancée, combinant plusieurs outils pour permettre à l'utilisateur d'analyser les propriétés de surface et de surface ou divers matériaux. Il utilise la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS), la microscopie par force atomique (AFM), la microscopie par sonde à balayage (SPM), le temps de vol Mesures secondaires de la spectrométrie de masse ionique (TOFSIMS) et la spectroscopie Raman pour fournir des données remarquables sur la composition de la topographie.