Occasion ELLIPSOTECH Elli-633-F70 #9249918 à vendre en France

ELLIPSOTECH Elli-633-F70 Ellipsomètre est un instrument d'économie d'espace et de haute performance pour mesurer les propriétés optiques et les épaisseurs optiques des couches minces. Cet ellipsomètre est universellement applicable pour la surveillance d'une large gamme de couches minces telles que des oxydes, des nitrures, des métaux et des alliages métalliques, avec des épaisseurs d'échantillons allant de 0,3nm à 4000nm. Le design innovant de l'Ellipsomètre dispose d'un système de balayage laser et d'échantillons très précis et précis, couplé à une interface utilisateur intuitive avec un environnement de fenêtre facile à utiliser. Ce système permet à l'utilisateur de mesurer rapidement et avec précision une large gamme de propriétés de couches minces sur de grandes zones d'échantillonnage. L'Ellipsomètre est capable de mesurer un certain nombre de propriétés dont l'épaisseur optique, l'indice de réfraction, le coefficient d'extinction, les constantes optiques, le spectre d'émission, l'absorbance, l'angle d'incidence, le type de film, l'uniformité d'épaisseur, l'uniformité de réfraction, la durée de vie du guide d'onde, l'espacement des couches, et plus encore. Ces mesures peuvent être effectuées avec une confiance absolue en raison de la répétabilité et de la reproductibilité du système. L'Ellipsomètre utilise un faisceau laser polarisé pour mesurer les propriétés optiques des couches minces. Le faisceau incident est généré par une source laser Nd : YAG d'une longueur d'onde de 633 nm et est constitué de lumière polarisée à la fois en s et en p. L'angle incident de la lumière est réglable avec une sensibilité angulaire de 10-5 radians, permettant à l'utilisateur de mesurer avec précision les propriétés optiques des couches minces. L'Ellipsomètre utilise une étape de translation d'échantillon contrôlée par ordinateur et un détecteur de position d'échantillon pour assurer un positionnement précis de l'échantillon et un angle d'incidence optimal. Cela permet à l'instrument de mesurer avec précision les propriétés optiques des couches minces avec une précision et une répétabilité supérieures, permettant aux utilisateurs d'évaluer avec précision les propriétés optiques sur des durées d'heures, de jours ou même de mois selon les objectifs. L'Ellipsomètre peut également être exploité à distance à l'aide d'un PC en réseau avec accès à des logiciels professionnels. Cela permet aux utilisateurs d'accéder à l'instrument et d'effectuer ses mesures partout dans le monde, ce qui rend extrêmement facile et pratique d'effectuer des mesures optiques simples et complexes. L'Ellipsomètre est simple à utiliser et offre des performances puissantes pour la mesure des propriétés des couches minces. Il est conçu avec la durabilité et la robustesse de pointe de l'industrie pour assurer des mesures précises et fiables sur de longues périodes de temps. L'affichage graphique en temps réel des propriétés optiques rend cet instrument facile à utiliser et aide les utilisateurs à identifier rapidement les paramètres optiques optimaux pour leurs mesures.