Occasion GAERTNER L106C #116155 à vendre en France
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ID: 116155
Taille de la plaquette: 6"
Large substrate ellipsometer
Manual load
Stage: 15" diameter circle, rotates 360°
Radial sliding scale: Graduated in 0.1 cm increments
Total stage travel: 19.8 cm
Variable angle model
Used for measuring coatings on 14" diameter glass disks
Alignment:
Built-in axis of rotation of incident arms is in the sample plane
Method of measurement: Rotating analyzer samples (144) data points
Detector: Solid state with auto gain feature
Incidence angle: 30°, 45°, 50°, 55°. 60°, 65°. 70°, 75°, 80°, 90°
Light source: HeNe 6328A Laser gives less than 1 mW output on sample
Beam diameter (Standard): 1 mm diameter (1 X 3mm on wafer @ 70°)
Measurement time: 3 Seconds
Sample monitor:
(39) Power microscopes for surface viewing
Tilt monitor for checking sample out of flatness
Sample (wafer) size:
6" Diameter standard
3" Linear
360° Rotary motion covers any point on a 6" diameter wafer
Interface: RS232
Computer: IBM PS/2-25 Model 8525001
Film thickness range: 0-60,000 Angstroms
Accuracy: ±3 Angstroms
Repeatability: ±3 Angstrom
Refractive index: ± .005
Power: 115V, 100V, 220V, 230V, 240V.
GAERTNER L106C est un ellipsomètre sans contact de pointe conçu pour mesurer les propriétés optiques complexes des couches minces et des surfaces. Ce dispositif est capable de déterminer à la fois l'épaisseur du film et ses constantes optiques avec une combinaison de vitesse, de précision et de répétabilité exceptionnelles. L106C dispose d'une conception compacte et offre à l'utilisateur une variété d'options pour l'enregistrement des données et l'analyse des données. Grâce à sa conception optique avancée, GAERTNER L106C est capable de mesurer un large spectre d'échantillons tels que des surfaces transparentes, semi-transparentes, transparentes-opaques et diffuses. L'équipement utilise une diode laser à modulation de polarisation comme source de lumière et intègre une conception unique, double prisme anamorphique pour obtenir une plus grande précision de la mesure. L'ellipsomètre est capable d'obtenir des mesures précises des paramètres du film critique, y compris l'épaisseur, les constantes optiques et les indices de réfraction. Le système peut balayer plusieurs angles d'incidence simultanément, ce qui permet à l'utilisateur d'analyser rapidement les propriétés optiques complexes de son échantillon. L106C comprend également un logiciel complet qui aide l'utilisateur à stocker et à analyser ses données de mesure. Le logiciel peut être personnalisé selon les besoins de l'utilisateur, avec des options pour sauvegarder diverses combinaisons de paramètres de film et pour générer des rapports basés sur les données collectées. L'unité dispose également d'un étage d'échantillonnage motorisé pour un positionnement pratique, rapide et précis de l'échantillon. Cela permet à l'utilisateur de tester rapidement et avec précision une grande variété d'échantillons, en s'assurant que les mesures sont obtenues dans des conditions cohérentes et répétables. En outre, la machine est conçue pour fonctionner, même dans des environnements éclairés, sans source lumineuse supplémentaire requise. GAERTNER L106C est un outil puissant et polyvalent pour effectuer des mesures précises et fiables sur des couches minces et des surfaces optiques. Sa combinaison de conception avancée et de logiciel convivial garantit des résultats précis et reproductibles sans sacrifier la vitesse ou le coût. Ce dispositif est idéal pour une variété d'applications telles que les technologies de semi-conducteur, optoélectronique et d'affichage.
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